可靠性寿命的计算（高手请进）

homzi 发表于 2007-8-8 17:23:02

现在在做可靠性的试验，包括高温存储，低温存储等。高温存储时会计算出一个寿命，低温存储也会计算出一个。我如何评价这种产品的寿命

管理员：

简略的长时间老化计算!
长时间老化计算原理.rar(149.6KB)第5页资料。

china 发表于 2007-8-8 17:32:00

可靠性的试验，包括高温存储，低温存储等。高温存储

这些试验只是暴露出问题来,怎么可以评价出产品的寿命呢...

paulyu 发表于 2007-8-9 08:36:07

原帖由homzi于2007-8-817:23发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
现在在做可靠性的试验，包括高温存储，低温存储等。高温存储时会计算出一个寿命，低温存储也会计算出一个。我如何评价这种产品的寿命
你提及到的屬于環境實驗的內容,同壽命沒有關系的,它旨在評估產品在該環境下耐力狀況,如果涉及壽命則需要進行burnin的動作。

xyxiang1982715 发表于 2007-8-10 12:50:42

回复 #3 paulyu 的帖子

可以介绍下“burnin”吗？不懂，请具体解释下好吗？
谢谢！

homzi 发表于 2007-8-13 10:26:50

计算可靠性的寿命

这是一个可以计算可靠性的寿命，MTBF等，计算比较简单

cliffcrag 发表于 2007-8-13 10:36:06

不错，鼓励自己动手制作，验算这些公式。

虽然论坛里有一些相关这方面的可靠性资料，但还是要支持一下。。。:victory:

homzi 发表于 2007-8-13 10:57:45

paulyu您好，我也想了解一下BURNIN的知识

cliffcrag 发表于 2007-8-13 11:08:17

burn in

可以看看：angel8679版主回复的：howtodefinetheburnintestforadaptor

也盼其它高手来解释解释burnin方面的知识。。。

338 发表于 2007-8-13 14:12:50

还不错，支持支持。。

novel 发表于 2007-8-13 15:21:05

真的不错！值得大家学习!

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