s3070448126 发表于 2013-9-25 15:45:37

电子元器件单体环境可靠性

有没有做电子元器件单体环境可靠性的,具体是如验证元件环境可靠性的?

hehui418 发表于 2013-9-26 07:52:24

你可以参考GJB584B-2006《微电子器件试验方法和程序》，根据你电子元器件的具体使用环境和技术要求，从里面选出一些测试项目进行环境试验。

hehui418 发表于 2013-9-26 07:53:34

hehui418发表于2013-9-2607:52static/image/common/back.gif
你可以参考GJB584B-2006《微电子器件试验方法和程序》，根据你电子元器件的具体使用环境和技术要求，从里面...

不好意思，是GJB548B-2005

s3070448126 发表于 2013-9-26 08:22:11

hehui418发表于2013-9-2607:53static/image/common/back.gif
不好意思，是GJB548B-2005

你有这份文件吗?帮忙传一份到我油箱在此谢过了

s3070448126 发表于 2013-9-26 08:22:41

hehui418发表于2013-9-2607:53static/image/common/back.gif
不好意思，是GJB548B-2005

油箱308243956@QQ.com

hehui418 发表于 2013-9-26 10:07:25

s3070448126发表于2013-9-2608:22static/image/common/back.gif
油箱

已发送到你的邮箱，请查收！

hzwanglei 发表于 2013-9-27 12:41:18

:):)

huabiao 发表于 2014-9-25 17:05:32

如果参考IEC60068，一般的电子产品高温储存应是多少温度和时间？如：85度、24小时，里面没有具体要求，新手，不知道怎样理解？

huabiao 发表于 2014-9-25 17:06:04

hehui418发表于2013-9-2607:53static/image/common/back.gif
不好意思，是GJB548B-2005

如果参考IEC60068，电子产品高温储存应是多少温度和时间？如：85度、24小时，里面没有具体要求，新手，不知道怎样理解？

azatoligo 发表于 2017-6-2 09:47:09

好东西得和大家一起分享，谢谢
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