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查看: 4835|回复: 11

电子元器件单体环境可靠性

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发表于 2013-9-25 15:45:37 | 显示全部楼层 |阅读模式
有没有做电子元器件单体环境可靠性的,具体是如验证元件环境可靠性的?
发表于 2013-9-26 07:52:24 | 显示全部楼层
你可以参考GJB584B-2006《微电子器件试验方法和程序》,根据你电子元器件的具体使用环境和技术要求,从里面选出一些测试项目进行环境试验。
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发表于 2013-9-26 07:53:34 | 显示全部楼层
hehui418发表于2013-9-2607:52
你可以参考GJB584B-2006《微电子器件试验方法和程序》,根据你电子元器件的具体使用环境和技术要求,从里面...

不好意思,是GJB548B-2005
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 楼主| 发表于 2013-9-26 08:22:11 | 显示全部楼层
hehui418发表于2013-9-2607:53
不好意思,是GJB548B-2005

你有这份文件吗?帮忙传一份到我油箱在此谢过了
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 楼主| 发表于 2013-9-26 08:22:41 | 显示全部楼层
hehui418发表于2013-9-2607:53
不好意思,是GJB548B-2005

油箱308243956@QQ.com
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发表于 2013-9-26 10:07:25 | 显示全部楼层
s3070448126发表于2013-9-2608:22
油箱

已发送到你的邮箱,请查收!
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发表于 2013-9-27 12:41:18 | 显示全部楼层
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发表于 2014-9-25 17:05:32 | 显示全部楼层
如果参考IEC60068,一般的电子产品高温储存应是多少温度和时间?如:85度、24小时,里面没有具体要求,新手,不知道怎样理解?
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发表于 2014-9-25 17:06:04 | 显示全部楼层
hehui418发表于2013-9-2607:53
不好意思,是GJB548B-2005

如果参考IEC60068,电子产品高温储存应是多少温度和时间?如:85度、24小时,里面没有具体要求,新手,不知道怎样理解?
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发表于 2017-6-2 09:47:09 | 显示全部楼层
好东西得和大家一起分享,谢谢
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