元器件二次筛选试验指南

wx_Rm49BRbH · 发表于 2015-8-27 22:46:53

元器件二次筛选试验指南，供小伙伴们参考

kekaoxingbbs · 发表于 2015-8-28 17:05:58

谢谢分享！

xxslh · 发表于 2015-8-28 23:50:29

非常不错的资料哦

xidiancjw · 发表于 2016-1-24 11:29:06

挺好的资料，多谢了！

huangdongcan · 发表于 2016-1-25 15:27:58

很好的资料！

海底的鱼 · 发表于 2017-1-14 23:52:38

不错哟

azatoligo · 发表于 2017-6-2 09:46:10

好东西得和大家一起分享，谢谢

hxy040150 · 发表于 2017-7-27 16:03:42

需要，已收藏。

Johns · 发表于 2017-8-3 11:42:36

说哪方面的！能不能有个简单介绍！

yeh · 发表于 2017-8-4 08:33:58

恒定加速度筛选也可称为离心加速度筛选，器件在高速旋转时将承受离心力作用，离心力大到一定程度将对引线键合、芯片粘接有缺陷的器件起筛选作用。恒定加速度作为筛选项目，仅要求作Y1方向(芯片脱离方向)的试验。但在作恒定加速度试验时必须注意采用合适的夹具，否则很可能造成被试器件结构的损坏。

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