可靠性论坛(旧) › 可靠性试验 › 85C 85%RH 测试

wx_sXa1LeMX 发表于 2015-2-27 19:34:49

我们公司对PCB版也做同样的试验，300小时！

wx_sXa1LeMX 发表于 2015-2-27 19:37:35

由于PCB基材的绝缘层是由树脂与玻璃布所构成，当在高电压状态下，通孔与通孔、线路与线路、线路与通孔间形成一个电场，而PCB湿制程很多，水分中或板面清洁不良残留的电解质可能经由钻孔产生的微裂缝顺着玻璃纤的方向迁移产生短路，造成绝缘失效，这种现象称为CAF阳极性玻纤丝的漏电现象。CAF测试通过监控测试单元的电阻，当CAF发生时，绝缘层的绝缘性能下降，电阻也随之下降，由此可判断CAF的失效



这解释太牛X啦可以很多人搞定

wf2002 发表于 2015-3-5 11:02:05

Dwight-T发表于2014-7-1113:17
双85加电实验在我这边还是长做的，还有个实验失效机制与双85类似，是130/85，区别就是温度130度，有2.3个大...

130/85應該是不帶電的,實驗時間也比85/85短

jean.duan 发表于 2015-3-5 15:13:24

家电整机产品（非通信类）的，产品验证不做这个实验，但研发有时会做，仅作为失效分析的手段

huoshenzhilian 发表于 2015-3-12 16:12:23

目前半导体分立器件行业的85/85可以被HAST（130/85）试验代替！这样可以做的时间短一些。另外两个试验都需要加电，不过加电条件不一样罢了！

ysw20757007 发表于 2015-3-13 08:41:43

可靠性菜鸟发表于2014-2-2516:53
电解离子的迁移是需要条件的。

高温高湿加偏压刚好提供了离子加速迁移的条件。


还有个是可燃物

ktjie 发表于 2015-3-23 11:11:23

不错的资料，学习一下

秋风扫落叶 发表于 2015-4-1 14:21:32

学习了

cheng10_xu 发表于 2015-4-2 08:55:26

wf2002发表于2015-3-511:02
130/85應該是不帶電的,實驗時間也比85/85短

130/85现在都做带电测试，叫做BHAST即BiasHAST，不带电的叫做U-HAST。做了BHAST，UHAST就可以不做

zjfa 发表于 2015-8-18 07:34:45

可靠性菜鸟发表于2014-2-2514:35static/image/common/back.gif
由于PCB基材的绝缘层是由树脂与玻璃布所构成，当在高电压状态下，通孔与通孔、线路与线路、线路与通孔间...

http://www.kekaoxing.com/club//mobcent//app/data/phiz/default/23.png
高压状态一般要多大电压？对于像3.3V这种低压供电的产品，这个实验还有意义吗？

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