改进产品的鉴定试验技术求助
目前针对某电子产品进行了硬件升级,更换了60个多元器件,产品共一千多个元器件。因为做了更改,客户要求做鉴定试验证明其MTBF符合原要求(原要求1000小时,原产品已经通过了鉴定试验)
如果按照新产品做鉴定试验的话,成本太高了。
有没有相关的技术或者标准或者案例,针对这种更换元器件的改进产品的鉴定试验方法?
我是想通过可靠性预计理论上证明更换的60个器件可靠性高于原来的60个器件,然后按照鉴定试验的剖面进行一定的时间的鉴定试验。
但是这个试验时间长短该怎么确定了?
或者大家有更好的方法? 本帖最后由寒夜孤舟于2014-12-409:28编辑
看你怎么没做了常规的鉴定试验确实比较耗时间,可以考虑加速试验,但是加速试验的设计比较麻烦,同时可信性不是很高!
常规鉴定方式你可以参考GJB899A或者GB5080。加速试验要你们自己弄了。 很多标准都有规定改进的样品需要做哪些试验,MTBF我没标准依据,但如果是符合weibull分布的,改进样品可靠性寿命可以用WeiBayesapproach来做,省下大量的样品量 danny301发表于2014-12-411:33static/image/common/back.gif
很多标准都有规定改进的样品需要做哪些试验,MTBF我没标准依据,但如果是符合weibull分布的,改进样品可靠性...
因对可靠性试验不是太熟悉,还请不吝赐教。谢谢~~~ 这个个人觉得从降额、替换的零部件的单体失效绿比对做一个文件证明下应该就可以了,有时候设计保证比验证更有说服力。 和客户商量一下? symons发表于2014-12-510:11static/image/common/back.gif
这个个人觉得从降额、替换的零部件的单体失效绿比对做一个文件证明下应该就可以了,有时候设计保证比验证更...
客户觉得光证明不够,还要做实验验证下,我们又不想投入太多财力物力进去。。。。 有时候实验室需要强势一点...... symons发表于2014-12-813:58static/image/common/back.gif
有时候实验室需要强势一点......
人家不给你盖章,你再强势也没用。。。改了也是白改,交付不了的。。。
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