hotleaves 发表于 2007-11-9 13:38:11

求助可靠性试验通过标准

我公司是一家生产半导体器件的厂家，今天老大给了我一个任务，说我公司可靠性试验开展得已经较为全面了，考虑是否要出一份可靠性试验通过标准文件，说明哪些试验一出现元件失效该试验就判定为不合格，哪些试验允许出现一定的元件失效，但必须有一个明确的比例，而哪些试验需要探索元件的极限值，我晕了。哪位高手指点迷津啊？谢谢啦

winnie9999 发表于 2007-11-10 09:36:36

可以找些业内的东东学学啊，
大体了解后，自己制定啦。

arvinghchen 发表于 2007-11-11 18:55:06

建议你去找一下国标或是美军标,里面有对半导体器件的可靠性作详细的规范.

hotleaves 发表于 2007-11-12 14:25:18

我看到最多的是关于验证拒收这一块，还有就是失效模式等，就是没有关于样品失效数量规定等

Gary 发表于 2008-3-18 16:39:02

Bellcore的ＧＲ系列标准有明确规定允许的失效样品数

arvinghchen 发表于 2008-3-18 19:34:51

原帖由Gary于2008-3-1816:39发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
Bellcore的ＧＲ系列标准有明确规定允许的失效样品数
bellcore的标准太多了,可否告知一下是哪个标准,,谢谢:)

Gary 发表于 2008-3-18 22:37:19

你的样品是什么东东呀？
如果是LD的话，可以参考GR-468-CORE，AppendixA,SamplingPlanTable
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