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求助可靠性试验通过标准

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发表于 2007-11-9 13:38:11 | 显示全部楼层 |阅读模式
我公司是一家生产半导体器件的厂家,今天老大给了我一个任务,说我公司可靠性试验开展得已经较为全面了,考虑是否要出一份可靠性试验通过标准文件,说明哪些试验一出现元件失效该试验就判定为不合格,哪些试验允许出现一定的元件失效,但必须有一个明确的比例,而哪些试验需要探索元件的极限值,我晕了。哪位高手指点迷津啊?谢谢啦
发表于 2007-11-10 09:36:36 | 显示全部楼层
可以找些业内的东东学学啊,
大体了解后,自己制定啦。
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发表于 2007-11-11 18:55:06 | 显示全部楼层
建议你去找一下国标或是美军标,里面有对半导体器件的可靠性作详细的规范.
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 楼主| 发表于 2007-11-12 14:25:18 | 显示全部楼层
我看到最多的是关于验证拒收这一块,还有就是失效模式等,就是没有关于样品失效数量规定等
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发表于 2008-3-18 16:39:02 | 显示全部楼层
Bellcore的GR系列标准有明确规定允许的失效样品数
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发表于 2008-3-18 19:34:51 | 显示全部楼层
原帖由Gary于2008-3-1816:39发表
Bellcore的GR系列标准有明确规定允许的失效样品数

bellcore的标准太多了,可否告知一下是哪个标准,,谢谢
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发表于 2008-3-18 22:37:19 | 显示全部楼层
你的样品是什么东东呀?
如果是LD的话,可以参考GR-468-CORE,AppendixA,SamplingPlanTable
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