Evi
发表于 2017-1-14 09:48:49
高温高湿测试的说明
电子元器件高温高湿后失效，静置几个小时后不良消失，如何判定实验结果
在标准中是否有说明，紧急！
mkop1123
发表于 2017-3-11 12:54:36
我这边是实验后静置一天后测量
dacaoyu
发表于 2017-7-25 09:44:41
这个是各自定义规格吧
huangdongcan
发表于 2017-8-28 12:04:07
放置一些日子，能恢复的是判定OK的。不能恢复的才能判定NG的。
huangdongcan
发表于 2017-10-10 13:47:29
:):)
它音
发表于 2017-10-11 08:50:21
电子元器件都要静置一段时间才测试功能的
allan187
发表于 2017-10-11 08:53:32
我们这边都是从环境箱出来就测试的，Fail再拿过去分析，只要没拆开过，如果静置一段时间Pass，也是算过的。
791604555
发表于 2017-10-19 10:29:44
能恢复就OK否则FAIL
明天你好
发表于 2017-10-19 14:11:05
一般不是回复1个小时后处理
lqm
发表于 2017-10-27 17:34:48
您好，我现在正准备做元器件的高温高湿实验，但是我是新手，能否给您的实验方案我看看呀，万分感谢