高温高湿测试的说明

Evi · 发表于 2017-1-14 09:48:49

电子元器件高温高湿后失效，静置几个小时后不良消失，如何判定实验结果
在标准中是否有说明，紧急！

mkop1123 · 发表于 2017-3-11 12:54:36

我这边是实验后静置一天后测量

dacaoyu · 发表于 2017-7-25 09:44:41

这个是各自定义规格吧

huangdongcan · 发表于 2017-8-28 12:04:07

放置一些日子，能恢复的是判定OK的。不能恢复的才能判定NG的。

huangdongcan · 发表于 2017-10-10 13:47:29

它音 · 发表于 2017-10-11 08:50:21

电子元器件都要静置一段时间才测试功能的

allan187 · 发表于 2017-10-11 08:53:32

我们这边都是从环境箱出来就测试的，Fail再拿过去分析，只要没拆开过，如果静置一段时间Pass，也是算过的。

791604555 · 发表于 2017-10-19 10:29:44

能恢复就OK否则FAIL

明天你好 · 发表于 2017-10-19 14:11:05

一般不是回复1个小时后处理

lqm · 发表于 2017-10-27 17:34:48

您好，我现在正准备做元器件的高温高湿实验，但是我是新手，能否给您的实验方案我看看呀，万分感谢

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