温度筛选试验和老化试验的区别?
我们这边的电路板主要是做老化试验,这几天看书看到温度筛选,就是高低温循环,想问问有没有专家知道这两种试验的区别,各有什么优势? 老化试验和高低温循环都是环境应力筛选试验(ESS)中一种,目的都是剔除早期器件失效和工艺缺陷。一般整机或板级产品会用温度循环,元器件用高温老化个人认为温度循环时间长筛选效果好高温老化时间短 筛选效果差一些 温度筛选,找出产品初期设计阶段的缺陷 温度筛选,找出产品初期设计阶段的缺陷,高低温循环评估模拟产品在运输使用,存储的环境吧 都是剔除早期失效,温循应力较老化大,温循一般情况是抽样试验。 不是温度筛选,是叫温循筛选吧?做完筛选的样品还可以给客户使用,用于剔除封装方面的早期失效。老化试验主要看是否电路是否有问题,时间短的叫burn in,用于筛除电路制造的早期失效,时间长的Htol,用于发现电路设计问题。 又学习了,,:):):):) 应力筛选简单介绍http://www.kekaoxing.com/club/forum.php?mod=viewthread&tid=44640&fromuid=115964
(出处: 中国可靠性论坛)
学习了。这个问题一直很困惑。 alygr 发表于 2018-5-4 13:48
老化试验和高低温循环都是环境应力筛选试验(ESS)中一种,目的都是剔除早期器件失效和工艺缺陷。一般整机 ...
正解,同意!
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