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温度筛选试验和老化试验的区别?

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发表于 2018-1-23 20:42:33 | 显示全部楼层 |阅读模式
我们这边的电路板主要是做老化试验,这几天看书看到温度筛选,就是高低温循环,想问问有没有专家知道这两种试验的区别,各有什么优势?
发表于 2018-5-4 13:48:43 | 显示全部楼层
老化试验和高低温循环都是环境应力筛选试验(ESS)中一种,目的都是剔除早期器件失效和工艺缺陷。一般整机或板级产品会用温度循环,元器件用高温老化  个人认为温度循环时间长筛选效果好  高温老化时间短 筛选效果差一些
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发表于 2018-1-24 00:03:24 来自手机 | 显示全部楼层
温度筛选,找出产品初期设计阶段的缺陷
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发表于 2018-1-24 00:04:27 来自手机 | 显示全部楼层
温度筛选,找出产品初期设计阶段的缺陷,高低温循环评估模拟产品在运输使用,存储的环境吧
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发表于 2018-5-4 23:34:56 | 显示全部楼层
都是剔除早期失效,温循应力较老化大,温循一般情况是抽样试验。
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发表于 2018-5-7 00:27:43 | 显示全部楼层
不是温度筛选,是叫温循筛选吧?做完筛选的样品还可以给客户使用,用于剔除封装方面的早期失效。老化试验主要看是否电路是否有问题,时间短的叫burn in,用于筛除电路制造的早期失效,时间长的Htol,用于发现电路设计问题。
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发表于 2018-11-28 14:30:10 | 显示全部楼层
又学习了,,:)
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发表于 2018-12-21 17:27:20 | 显示全部楼层
应力筛选简单介绍
http://www.kekaoxing.com/club/fo ... &fromuid=115964
(出处: 中国可靠性论坛)
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发表于 2019-1-30 16:23:59 | 显示全部楼层
学习了。这个问题一直很困惑。
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发表于 2019-1-31 08:27:03 | 显示全部楼层
alygr 发表于 2018-5-4 13:48
老化试验和高低温循环都是环境应力筛选试验(ESS)中一种,目的都是剔除早期器件失效和工艺缺陷。一般整机 ...

正解,同意!
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