padie 发表于 2008-3-4 11:29:42

fab廠如何檢視層與層之間是否有缺陷

不曉得這問題適不適合在這邊發問~

Q：fab廠如何檢視層與層之間是否有缺陷?

由"WAT的電性"資料可以保證層與層之間沒有缺陷嗎?
或是FAB廠可由進行其他的測試得知?
若有，又是進行哪些測試?

小女是入門新手，先感謝各位先進的回答囉~

sunjj 发表于 2008-3-4 11:49:03

半导体技术天地芯片设计版图制造工艺制程封装测试wafer,chip,ic,process,layout,package,test,FA

http://www.2ic.tw/bbs/

padie 发表于 2008-3-4 12:01:23

謝謝~我去那邊發問了
感謝您
页: [1]
查看完整版本: fab廠如何檢視層與層之間是否有缺陷