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fab廠如何檢視層與層之間是否有缺陷

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发表于 2008-3-4 11:29:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
不曉得這問題適不適合在這邊發問~

Q:fab廠如何檢視層與層之間是否有缺陷?

由"WAT的電性"資料可以保證層與層之間沒有缺陷嗎?
或是FAB廠可由進行其他的測試得知?
若有,又是進行哪些測試?

小女是入門新手,先感謝各位先進的回答囉~
发表于 2008-3-4 11:49:03 | 显示全部楼层
半导体技术天地[SemiconductorTechnologyWorld]芯片设计版图制造工艺制程封装测试wafer,chip,ic,process,layout,package,test,FA

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 楼主| 发表于 2008-3-4 12:01:23 | 显示全部楼层
謝謝~我去那邊發問了
感謝您
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