chenmanwen 发表于 2009-4-14 14:44:11

激活能Ea如何取值？(附微电子器件失效激活能快速评价法)

我想做一个电源监控芯片的加速试验，要计算测试时间，但不知道Ea的取值，希望大家给予指导~不胜感激



18楼附:
微电子器件失效激活能快速评价法.pdf(398.84KB)

murenlijun 发表于 2009-4-14 16:35:30

失效模式        失效机理        激活能（eV）
阈值电压漂移        离子性（SiO2中的钠离子漂移）        1.0~1.4
阈值电压漂移        离子性（Si－SiO2界面的低阻挡层）1.0
漏电流增加        形成反型层（MOS器件）        0.8~1.4
漏电流增加        隧道效应（二极管）        0.5
电流增益下降        因水分加速离子移动        0.8
开路        铝的腐蚀        0.6~0.9
开路        铝的电迁移        0.6
短路        氧化膜击穿0.3

sunjj 发表于 2009-4-15 10:40:54

用于加速模拟寿命试验的Ea值，一般国际大厂使用0.7eV，也有保守的使用0.6eV。
这些数据可以在这些厂商的网站上取得，一般在〈质量和可靠性手册〉中。
这些数据的取得，当然要试验后取得，也可以直接引用。
关于你的案例（电源监控芯片），也可以要求芯片流片厂提供。

deadxiaoh 发表于 2009-12-28 16:48:47

感谢SUNJJ！

weijia0219 发表于 2010-2-27 21:04:47

一般电子类产品我们公司的EA取值都取0.67eV.不知道有更加科学的取值方法没？谢谢

gwncc123 发表于 2010-5-3 21:36:27

不建议用参考值，还是要自己设计实验做出实验值的

阿華 发表于 2010-5-31 11:00:58

半導體會參考MIL-HDBK-217的0.43ev

dreampet 发表于 2010-6-2 16:46:30

我们目前用0.7ev，等积累足够数据后再推算自己产品的ev

mars_liu 发表于 2010-9-13 10:27:47

最准确就是先做实验知道产品的寿命,在用模型返回来求Ea

qiuxuyudy 发表于 2010-10-7 10:59:06

有没有EA的相关选取的列表可以共享下
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