坦白说,虽然见过很多书上讲筛选
但是我从来没有见过哪个公司真正做筛选的,汗
小的见识比较少 原帖由aries于2009-4-3014:00发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
就是说你其实是想做一个筛选
坦白说,虽然见过很多书上讲筛选
但是我从来没有见过哪个公司真正做筛选的,汗
小的见识比较少
对，其实目的是筛选
然后就是考虑用极限温度下老化的方式，适合不适合来做这种筛选 恩,我从来没有做过筛选,也没见谁出来讲过自己做的筛选,虽然讲筛选的书一堆一堆的
讲讲我自己的看法吧
我觉得筛选最需要顾忌两个问题
1.筛选是否到位,是否把具有潜在缺陷的产品筛选出来
2,筛选是否过应力以至于影响到产品的实际使用寿命.
至于你讲的极限温度下来筛选(以结温为标准,所以结温的准确测量非常重要).
我觉得值得试试,因为如果温度一旦高过结温很多,很可能会引入新的失效模式,而且在实际使用的过程中,结温往往距离spec规定的极限温度还有一定的差距.所以我觉得可以试着用极限温度来做筛选
至于看是否过应力,我觉得可以参考Hass的那个方法来评判.
btw,仅仅是想法哈,不是基于俺的实际经验 原帖由bradley于2009-4-3011:41发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
我做加速老化的目的，其实是想渡过澡盆曲线的第一段，筛选一下，让某些存在可靠性隐患的器件早点暴露出问题。这种目的是不是不应该做这种极限温度下的老化呢？
因为我们每批的产品数量比较少，所以想尽量提高...
通常民用商业级（或工业级）器件（包括IC和普通的晶体管）只要是正规渠道进的货，完全没有必要做筛选，而且还费时费力，得不偿失！你所提到元器件浴盆曲线对大多数成熟批量元器件“早夭期”实际上并不存在，或者准确点讲根据我的经验，目前这类商用器件因为其制程工艺已经成熟，其早期是效率已经降低到很低的水准，或者说已经和随即失效阶段的失效率很接近，完全可以接受，这类元器件不需要做筛选，直接拿来使用。因此实际上民用产品极少做筛选。只有军级或航天级才会广泛的开展筛选。
[本帖最后由justinbk于2009-4-3021:52编辑]
回复 22楼 bradley 的帖子
对元器件进行筛选，首先就要搞清楚想要筛除的缺陷是什么，而不是盲目的选用高温或其他环境应力。倘若方法不对，不仅达不到筛选的目的，白白浪费了时间和金钱，更可能出现触发新的失效模式，或者大幅降低器件有效使用寿命的结果，所以这个筛选目的很重要，不能人云亦云的认为所有缺陷都可以通通那高温工作进行筛选。举个简单的例子，军品里面的大功率晶体管容易在芯片粘接上出现问题，这个时候首要检查的就是粘接质量，但通常使用比较多的方法就是CSAM筛选（这是一种无损检测），可以筛除绝大部分芯片粘接问题都可以判断出来。
再比如对于某些空封器件的密封性能测试，可以通过检漏这种无损检测方法。
以上只是举例筛选方式的选择很重要。
另外就是要用到高温老炼，一般不建议用最高使用温度进行老化，应力的选择和持续的时间选择都非常重要，这个也不好三两句说完，楼主还是看看自己究竟对改器件的什么参数或性能或工艺比较关心，再决定筛选方法和应力吧。 楼上的看来很懂啊
另外就是要用到高温老炼，一般不建议用最高使用温度进行老化，应力的选择和持续的时间选择都非常重要，这个也不好三两句说完，楼主还是看看自己究竟对改器件的什么参数或性能或工艺比较关心，再决定筛选方法和应力吧。
既然三两句讲不完,就多讲讲撒,也好让大家学习下 原帖由justinbk于2009-4-3021:51发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
通常民用商业级（或工业级）器件（包括IC和普通的晶体管）只要是正规渠道进的货，完全没有必要做筛选，而且还费时费力，得不偿失！你所提到元器件浴盆曲线对大多数成熟批量元器件“早夭期”实际上并不存在，或者...
这个好像我在BellcoreTR-332上有看到过,讲如果产品是成熟的产品,的确没有必要做筛选. 原帖由aries于2009-4-3014:00发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
就是说你其实是想做一个筛选
坦白说,虽然见过很多书上讲筛选
但是我从来没有见过哪个公司真正做筛选的,汗
小的见识比较少
]"但是我从来没有见过哪个公司真正做筛选的"[/color]
顶一个！ 非常感谢aries和justinbk等高手的细致答复！
学到不少东西！！
主要是公司小，产品量少，但是对产品的要求算比较高(电力用测量仪器，属于工业产品)。元件的IQC无法做到，就想通过高温老化来一次性做一下最后的把关。其实我自己也觉得，在极限温度下老化，很有可能反而导致器件过早进入澡盆曲线的后半部。
对于关心的参数，其实主要是功率器件在相对高温下的稳定性，以及抗各种电冲击的能力。因为我们的仪器使用过程中，本身会发热，另外，有很多额外的电冲击加到端口上。另外，当然还是有些担心某些器件的本身质量。
可能如各位所说，基本从正规渠道获得的元器件，已经没有什么必要做所谓的老化。只要对整机进行一段时间的通电，测试没什么问题，就应该可以出厂了。
不能相信元器件的采购途径！
批量不大（小于10K）的工业产品，永远也不能相信元器件的采购途径！谁不相信这条，都要为此损失过亿元。高可靠性产品的生产的唯一办法，就是对所有出厂产品要进行3%左右的加速老化。
中等可靠性的，要求0.3%的老化率。