dmmnym 发表于 2009-5-4 11:19:53

FMEA数据怎么获得?

要进行系统的FMEA分析,元器件的故障模式及出现概率怎么获得呢?如现在要分析FPGA对整个系统的影响,它都有哪些故障呢,故障出现的概率是多少呢?

murenlijun 发表于 2009-5-4 13:12:03

这个非你自己无以回答

murenlijun 发表于 2009-5-4 13:20:21

不过FMEA好像没你讲的这么复杂吧,整个S\O\D就好了,这些都得根据你自己的情况来确定的。其实我觉得还应该增加一个改进困难度,综合考虑各技术、成本和推进难度,这个其实很重要的,尤其对现实操作来说。

zhanghjspace 发表于 2009-5-4 13:25:20

先把故障和故障模式搞清楚,这两个概念是不同的。通俗点讲,故障是指系统或产品不能正常工作的状态,而故障模式是产生故障或失效的因素或直接原因,有些故障模式本身就是故障。

一般的电子元器件,都有相关的资料可以查到其故障模式的种类和频率,常做这方面工作的人都知道。
至于你说的可编程逻辑阵列,我没有见过,不知道有没有。如果真的没有的话,那就得从实践当中统计了。
故障模式的种类和数量以及相应的频率(数),其实都是从大量的数据中统计得来的,通常由官方或官方指定的机构发布。
如果你要统计的话,需要和生产、研发、用户等各方面的人共同结合起来探讨。不过先提醒你一下,这是一个很大的工程,而且你统计出来的结果也不具有权威性,但是自己做出来的东西最起码自己放心,不是吗。

cwz1978 发表于 2009-5-4 17:05:17

不同公司,FMEA也不同,这个要和你们内部多交流

admin 发表于 2009-5-4 17:11:12

给一个电阻的例子:

   FMD91 器件分类二级分类失效模式模式百分比故障原因1合成电阻compoosition开路66   短路3   参数变化31 2薄膜电阻Film开路59过压/过功率  短路5   参数变化36 3线绕电阻Wirewound开路65过压/过功率  短路9过压/过功率  参数变化26过压/过功率4电阻网络开路92过压/过功率  短路8 5可变电阻器Variable开路53   短路7   输出不定40  热敏电阻开路63过功率  短路15器件质量问题  参数变化22器件质量问题MIL-hdbk-338BPAGE439
ReliabilityAnalysisCenter,"FailureMode/MechanismDistributions"(FMD-91)

  GJB299B二级分类失效模式模式百分比合成电阻compoosition开路  短路  参数变化 金属膜电阻P≤2W开路91.9P96参数变化8.1碳膜电阻P≤2W开路83.4P99参数变化16.6线绕电阻Wirewound  功率绕线电阻开路97.1P108参数变化2.9精密绕线电阻开路97p105参数变化3普通线绕电位器开路48.6P115短路12.1 接触不良39.3微调线绕电位器开路10P119短路10 接触不良80有机实芯电位器开路60.6P125短路5.6 接触不良33.8合成碳膜电位器开路34.2P128短路8.7 接触不良40 参数漂移40
MILITARYHANDBOOKELECTRONICRELIABILITYDESIGNHANDBOOK

MIL-HDBK-338B
P448

aij
=failuremodefrequencyratioofitemiforthefailuremodej(seeTable7.8-1foranexample),i.e.,theratiooffailuresofthetypebeingconsideredtoallfailuresoftheitem.

bij

=lossprobabilityofitemiforfailuremodej(i.e.,theprobabilityofsystemfailureiftheitemfails).AsuggestedscaleisCertainLoss=1.00,ProbableLossrangesfrom0.1to1.0,PossibleLossrangesfrom0to0.10,NoEffect-0.0

li=failurerateofitemi




(CR)ij=systemfailurerateduetoitemi’sfailinginitsmodej

CR=failuremodefrequencyratio(aij)*lossprobability(bij
)*failurerate(li)


另也可参考:MIL_STD_1629A
Page31~Page34

以上信息请参考。如果仔细找一下的话,应该可以解决你的问题了。

笨小孩 发表于 2009-5-4 17:34:36

FMEA是一个应用很广泛但是也比较有争议的方法,最主要的原因在于它主观性很强.对于有些元器件,其失效模式和概率是从数据库中找不到的,这时候需要分析人员根据自己的经验去填充.所以,楼主要的数据也许根本就是找不到的.

AOIQA 发表于 2009-5-5 01:23:47

MIL-HDBK-338B,这本书能不能提供一下呢?

admin 发表于 2009-5-5 08:47:09

回复 8楼 AOIQA 的帖子

楼上兄弟对论坛的资料不熟啊。这份资料的中英文版论坛都有。

dmmnym 发表于 2009-5-5 11:27:13

我现在要做的是BIT(测试性)的东西,首先要选择测试点。而在此之前,要考虑芯片之间故障的传播,这时就要考虑该芯片不同的故障模式及出现概率。要完全进行FMEA分析显然是不可能的,因为我的整个系统要用到很多芯片,而各个芯片故障模式也不可能一一列举,相关数据也没法查阅各种资料,所以我想自己把主要的故障模式列举一下,但故障率就不知道怎么获得了。感觉这样做很不权威。但这一步工作做的不好,又会影响到以后的工作。
不知我把我的情况说清楚了没?希望大家给个建议~~~~~
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