FMEA数据怎么获得？

dmmnym

要进行系统的FMEA分析，元器件的故障模式及出现概率怎么获得呢？如现在要分析FPGA对整个系统的影响，它都有哪些故障呢，故障出现的概率是多少呢？

murenlijun

这个非你自己无以回答

murenlijun

不过FMEA好像没你讲的这么复杂吧，整个S\O\D就好了，这些都得根据你自己的情况来确定的。其实我觉得还应该增加一个改进困难度，综合考虑各技术、成本和推进难度，这个其实很重要的，尤其对现实操作来说。

zhanghjspace

先把故障和故障模式搞清楚，这两个概念是不同的。通俗点讲，故障是指系统或产品不能正常工作的状态，而故障模式是产生故障或失效的因素或直接原因，有些故障模式本身就是故障。

一般的电子元器件，都有相关的资料可以查到其故障模式的种类和频率，常做这方面工作的人都知道。
至于你说的可编程逻辑阵列，我没有见过，不知道有没有。如果真的没有的话，那就得从实践当中统计了。
故障模式的种类和数量以及相应的频率（数），其实都是从大量的数据中统计得来的，通常由官方或官方指定的机构发布。
如果你要统计的话，需要和生产、研发、用户等各方面的人共同结合起来探讨。不过先提醒你一下，这是一个很大的工程，而且你统计出来的结果也不具有权威性，但是自己做出来的东西最起码自己放心，不是吗。

cwz1978

不同公司，FMEA也不同，这个要和你们内部多交流

admin

给一个电阻的例子：

			FMD91
器件分类	二级分类	失效模式	模式百分比	故障原因
1	合成电阻compoosition	开路	66
		短路	3
		参数变化	31
2	薄膜电阻Film	开路	59	过压/过功率
		短路	5
		参数变化	36
3	线绕电阻Wirewound	开路	65	过压/过功率
		短路	9	过压/过功率
		参数变化	26	过压/过功率
4	电阻网络	开路	92	过压/过功率
		短路	8
5	可变电阻器Variable	开路	53
		短路	7
		输出不定	40
	热敏电阻	开路	63	过功率
		短路	15	器件质量问题
		参数变化	22	器件质量问题

MIL-hdbk-338BPAGE439
ReliabilityAnalysisCenter,"FailureMode/MechanismDistributions"(FMD-91)

		GJB299B
二级分类	失效模式	模式百分比
合成电阻compoosition	开路
	短路
	参数变化
金属膜电阻P≤2W	开路	91.9
P96	参数变化	8.1
碳膜电阻P≤2W	开路	83.4
P99	参数变化	16.6
线绕电阻Wirewound
功率绕线电阻	开路	97.1
P108	参数变化	2.9
精密绕线电阻	开路	97
p105	参数变化	3
普通线绕电位器	开路	48.6
P115	短路	12.1
	接触不良	39.3
微调线绕电位器	开路	10
P119	短路	10
	接触不良	80
有机实芯电位器	开路	60.6
P125	短路	5.6
	接触不良	33.8
合成碳膜电位器	开路	34.2
P128	短路	8.7
	接触不良	40
	参数漂移	40

MILITARYHANDBOOKELECTRONICRELIABILITYDESIGNHANDBOOK

MIL-HDBK-338B
P448

aij
=failuremodefrequencyratioofitemiforthefailuremodej(seeTable7.8-1foranexample),i.e.,theratiooffailuresofthetypebeingconsideredtoallfailuresoftheitem.

bij

=lossprobabilityofitemiforfailuremodej(i.e.,theprobabilityofsystemfailureiftheitemfails).AsuggestedscaleisCertainLoss=1.00,ProbableLossrangesfrom0.1to1.0,PossibleLossrangesfrom0to0.10,NoEffect-0.0

li=failurerateofitemi

(CR)ij=systemfailurerateduetoitemi’sfailinginitsmodej

CR=failuremodefrequencyratio（aij）*lossprobability（bij
）*failurerate（li）


另也可参考：MIL_STD_1629A
Page31~Page34

以上信息请参考。如果仔细找一下的话，应该可以解决你的问题了。

笨小孩

FMEA是一个应用很广泛但是也比较有争议的方法,最主要的原因在于它主观性很强.对于有些元器件,其失效模式和概率是从数据库中找不到的,这时候需要分析人员根据自己的经验去填充.所以,楼主要的数据也许根本就是找不到的.

AOIQA

MIL-HDBK-338B,这本书能不能提供一下呢?

admin

楼上兄弟对论坛的资料不熟啊。这份资料的中英文版论坛都有。

dmmnym

我现在要做的是BIT（测试性）的东西，首先要选择测试点。而在此之前，要考虑芯片之间故障的传播，这时就要考虑该芯片不同的故障模式及出现概率。要完全进行FMEA分析显然是不可能的，因为我的整个系统要用到很多芯片，而各个芯片故障模式也不可能一一列举，相关数据也没法查阅各种资料，所以我想自己把主要的故障模式列举一下，但故障率就不知道怎么获得了。感觉这样做很不权威。但这一步工作做的不好，又会影响到以后的工作。
不知我把我的情况说清楚了没？希望大家给个建议~~~~~