ml7067 发表于 2009-6-29 20:29:45

遇到楼上同样问题，
另有，很多元器件是外协采购，经常出现问题，引进新厂家而无法验证其相应问题的可靠性，毕竟很多因素才出现故障模式，一般性试验都不会出现。

zhangxw 发表于 2009-6-29 22:06:39

从产品的角度来说，“寿命”这个概念比较模糊，这一点前面已经讨论过了。但是对于产品中的失效机理而言，“寿命”是有明确定义的，即单一失效机理的失效判据达到以后的时间，这个寿命时间仍然是服从统计分布特性的。
元器件的外协采购，应从失效机理出发，确定寿命时间，从产品的MTBF出发是难以接受的，同时很大程度上也是不可能的。

EWU 发表于 2009-8-14 16:05:09

原帖由kingdodoo于2009-6-522:04发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
简单画了个浴盆曲线的图，貌似传上来之后不太清楚啊！
可以理解为，器件的可靠性主要从浴盆曲线的相对高度（即失效率高低）考察，器件的有效寿命从随机失效期的长度（或允许失效率之间的长度，比如早夭期的100FIT到...

一般情况下，温度升高，可靠性降低。
请问是浴盆曲线的相对高度降低还是随机失效期的长度变短？

对于焊点这种疲劳失效（满足weibull分布）的情况呢？

bmwm3v6 发表于 2009-9-20 11:27:12

我来取经～！

feng841210 发表于 2009-12-21 10:26:58

冯敬d老师也来了？

facri001 发表于 2009-12-21 21:22:43

希望论坛中的高手多多指教！

amyliu2009 发表于 2010-12-23 16:36:31

我是来学习的!

forest_sheep 发表于 2016-5-13 12:23:12

对“MTBF=寿命”还是比较困惑啊

kafung 发表于 2017-10-11 15:21:45

解惑很多呢

ayfirefox 发表于 2017-10-30 10:21:44

学习了
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查看完整版本: 讨论：器件选型中，如何评估其使用寿命？