试验的时间如何换算成实际的使用寿命
比如样品在温度60度,湿度85%的试验箱中十天,如何换算成实际的使用寿命呢?请各位指点。 我也一直在研究这个问题,我们公司也一直在做这个测试,可是没有谁知道此测试代表真实的时间是多少?寻求高人解决 原帖由yangwenxue于2009-7-321:29发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif我也一直在研究这个问题,我们公司也一直在做这个测试,可是没有谁知道此测试代表真实的时间是多少?寻求高人解决
我找到了一些资料,给你参考下。愿意一起讨论。 原帖由yangwenxue于2009-7-321:39发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
我找到了一些资料,给你参考下。愿意一起讨论。
这个是JSD中的规定,FYI! 关于加速的问题,论坛里有好多的介绍和讨论。一般的电子产品都有可加速的计算公式,找一下吧,参考参考。(注意:公式的应用是有前提条件的) 在不同应力下做寿命试验,可得到多组数据--应力通常较实际使用情况下的应力高(加速),如温度60、70和80度等。由这些数据可拟合出可靠性模型。据此可模型可估计出实际使用情况下的使用寿命。 我最近也在尝试这方面的工作,大家可以看一下阿伦尼乌斯方程是否适合自己的体系 是阿列里乌斯加速寿命模型吧,楼上的不能在这个问题上大意。
回复 6楼 Jack315 的帖子
这种方法是根据一组组的失效分布,拟合出其失效分布曲线,进而得出一个方程式来,然后根据给定的参数去计算出寿命来。对吗?每一组的试验要多少样品得出的结果可信度才高呢?另,每组之间的温度步长太大,会不会也影响估计结果的准确度? 原帖由zhanghjspace于2009-7-500:58发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
这种方法是根据一组组的失效分布,拟合出其失效分布曲线,进而得出一个方程式来,然后根据给定的参数去计算出寿命来。对吗?
每一组的试验要多少样品得出的结果可信度才高呢?另,每组之间的温度步长太大,会不会...
LD的问题就是难回答...样品数量的影响还真没研究过。
在实际工作中,受资源限制,一般一个应力水平下的数据量取5~10,极端情况下可取到3。关于温度(应力)的步长,由于我们目前应用的理论是固定的模型,因此不应有太大的影响,主要考虑的是加速时实验时间,以及不产生新的故障模式。