jason0327 发表于 2009-10-27 14:30:40

加速寿命试验推算公式中活化能(Ea)选取标准！！！

那位前辈知道，还望不吝赐教，谢谢！

fanweipin 发表于 2009-10-27 15:00:21

原帖由jason0327于2009-10-2714:30发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
那位前辈知道，还望不吝赐教，谢谢！
以下是引用某讲议上的：
一般電子產品在早夭期失效之Ea為0.2~0.6eV,正常有用期失效之Ea趨近於1.0eV;衰老期失效之Ea大於1.0eV.

根據Compaq可靠度工程部(CRE)的測試規範,Ea是機台所有零件Ea的平均值.如果新機種的Ea無法計算,可以將Ea設為0.67eV,做常數處理.

目前,Dell和HP,Motorola等機種的Ea設為0.6eV.後
續將統一定為0.67eV.

jason0327 发表于 2009-10-27 16:59:34

回复 2楼 fanweipin 的帖子

非常感谢！！！

whxuzhi 发表于 2009-10-27 21:04:40

那机械产品的可靠性加速寿命试验怎么选取呢？

zhaokuan112 发表于 2009-10-28 14:33:09

回复 4楼 whxuzhi 的帖子

根据各种材料和产品，集成电路板来选取，有另外的参考标准清单，专门列举了

andynec 发表于 2009-11-12 15:57:05

正是我要找到东东，谢谢。

陆天琪 发表于 2010-7-13 16:46:40

很好，终于找到Ea的出处！

deadxiaoh 发表于 2010-7-13 17:10:48

感谢fanweipin

cyz163 发表于 2010-8-9 15:01:56

楼上给的值只是人家一般的经验值吧，但不知道这个Ea又是通过什么来算出来呢，有什么资料说明吗？

pif2216 发表于 2010-8-10 09:40:32

回复2#fanweipin


能分享下你说提到的这些规范不？
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