请个高手帮忙解决下关于激活能Ea和温变速率加速率常数β的难题
诚心求教：小弟最近对可靠性试验设计碰到以下2个棘手的问题，查阅很多资料不得其法！
激活能Ea是针对不同材料不同的失效机理而言，但我搞得产品都是PCBA板或电子成品；所有没找到计算实例；哪位大侠能有这方面经验分享下：
难题一：对于ArrheniusModel，激活能Ea=B*K,请问对以下例子B如何计算？？？？？
测试条件 85℃，滞留时间500hrs
样品数量 30pcsofPCBA
功能检查 100hrs,200hrs,300hrs,400hrs,500hrs
测试结果 失效数量
100hrs 1
200hrs 1
300hrs 0
400hrs 3
500hrs 3
难题二：对于温度循环实验，根据Coffin-MansonModel扩展式:
AF（tc）={/}^β，请问用下面例子中条件温度变化加速率常数β又如何精确点计算？？？？？？
测试条件 0℃~100℃，温变速率10℃/min，滞留时间15mins，500个循环
样品数量 30pcsofPCBA
功能检查 100cycles,200cycles,300cycles,400cycles,500cycles
测试结果 失效数量
100cycles 1
200cycles 1
300cycles 0
400cycles 3
500cycles 3
谢谢！
admin回复
minitab软件计算EA方法，详见第11楼,fuckit兄的附件！ 对于活化能一直有些迷糊，问过很多人，都只有个经验数据，据我了解的：
产品早期Ea=0.2~06，使用期Ea接近1，损耗期大于1
一般我们我们谈产品筛选，所以一般都在早夭期，所以选择0.2~0.6，多数是选择0.6
关于加速率常数β我不太明白到底指什么，可能说的就是Ea吧？ 我不会，但帮你顶一下 β:温度变化加速率常数，一般取4-8之间. Ea=B*K没找着公式的出处. 我也知道电子产品的Ea大约是0.6~0.7，加速率常数β在4~8.对于成品有没有一套精确评估方法？急！！！！！！！！！！！！！！！ 对于ArrheniusModel:
如果lz有另一组失效数据(比如65C条件下试验的失效数据),则可以通过数据分析计算出Ea
对于CM:
我看到的CM模型要比lz给出的复杂的多,不晓得你这个公式是参考什么资料 非常感谢fuckit大侠的回复；
对于ArrheniusModel，用2种条件做实验得出数据，再进行整理得出结果；但那只是说对于某个可量化的元器件适用，可根据统计元器件参数衰减而计算，没失效的也可以通过线性外延方式计算；然而对于成品只统计Failed和Passed，所以对于未失效的样品无法评估；所有请教，你是否有做过成品的实例，谢谢！
另外，CM模型你看到的是原型，一般温度改变试验都采用此扩展模型，但加速率常数β在式中是指数关系，因此不知道统计数据后又如何处理，若上面问题解决，则加速率常数β也可以通过2个测试条件统计数据，只是统计后数据如何比较并处理；同理，你是否有做过成品的实例，谢谢！ 等待大侠答案阿
Arrhenius Model 激活能EA
非常感谢fuckit大侠的回复；对于ArrheniusModel，用2种条件做实验得出数据，再进行整理得出结果；但那只...
pif2216发表于2009-11-2717:45http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
ArrheniusModel:关于你所说的只适用于某个可量化的器件,你的意思是在说Ea取值和失效模式&失效机理有关系吗?其实对于成品只统计PASS/NG的情况下,可以将Arrhenius和成品的寿命分布结合起来,你只需要care加速对成品失效率的影响,而不用去care每次的Fail具体是什么failure.附件的案例希望对你有帮助: