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在微利时代,电子产品为了满足「Time-To-Market」的需要,除了产品开发周期一再被压缩外,还必须能够在最短的时间设计出可靠的产品。因此,近几年来国际大厂纷纷将思维模式转为「如何在产品开发阶段,采用最快速又有效的方法来寻找产品可能潜在的缺陷!」
1979年,美国休斯飞机公司首度导入加速应力手法(ESS),使航空通讯电子系统在生命周期的失效率大幅下降。1996年,美国环境科学技术学会(IEST)提出HALT介绍,强调"HALTforProductQuick-To-Market",继此之后,国际上无论军方、工业与信息电子等产业均于产品雏型阶段,即导入HALT来缩短产品之研发验证周期,同时也采用HASA手法来控制量产质量,并降低产品于市场的失效率。
然而,企业界对于HALT/HASA试验精神一知半解,也时常对「如何决定产品必须承受的应力水平」感到困扰,甚至仍停留在「TestingforPASS」,而忽略试验真谛是在「TestingtoFAILURE」。
因此,本课程将以深入浅出方式带领学员了解以下内容:
时间 | 內容 | 13:00-13:30 | 报到 | 13:30-15:00 | 1.高加速寿命测试(HALT)的源起
2.如何正确执行高加速 寿命试验
3.高 加速试验下产品强度水平的取舍 | 15:00-15:20 | 茶歇 | 15:20-17:00 | 1.高加速应力稽核(HASA)在量产质量管理上的观念与应用
2.高加速应力(HASA)结果与 环境试验之转换与应用
3.如何以侦错手法解决失效问题 | 17:00-17:30 | Q&A |
讲师简介
崔革文先生,目前担任iST宜特科技,工程总处副总经理一职。过去服务于台湾工业技术研究院长达18年,服务期间从事领域包括IC封装技术,电磁兼容修改技术,IC元器件/PC板、模块与终端产品可靠性设计验证与环境模拟试验技术。2003年加入iST工程团队后,更致力于IC、PCB/PCBA与模块等故障分析技术研究,为少数横跨电子产业供应链之可靠性与故障分析工程专业人员。
近三年来应两岸厂家邀请赴厂训练,包括台达电、华硕、智邦、光宝、研华、广达、鸿海、联正科技、联想上海、昆山台协会、Flextronics、PhilipsLighting、IPCChina、ISTAChina等。
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