【5/13号深圳场】芯片可靠性验证关键因素研讨会-宜特

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广大的市场需求带动近年Fabless的IC设计产业在中国快速崛起，但产品的质量发展速度却跟不上市场的脚步，加上消费者意识抬头与国外竞争者的抢进，过去强调的高CP值的竞争优势逐渐丧失，下一阶段的战场将是在质量与可靠性上的竞赛。
高质量与可靠性≠高成本，了解问题的发生原因才能有效解决问题，此次研讨会将以深入浅出方式与各位从IC产品常见的故障模式来探讨先期可靠性的验证方式与其代表含义，依产品的应用/制程变更来拟定合适且有目的性的可靠性验证计划，并以此验证计划来评估产品未来的失效率。另外针对与客户端常见的ESD/EOS故障纠纷，课程中也将分享数个ESD/EOS在故障模式与分析流程的实际案例，与新式ESD/EOS的验证手法介绍。
iST宜特科技特别邀请台湾总部-iST宜特科技具备13年丰富经验的半导体专家，分别就芯片失效现象、可靠性与失效分析的不同面向观点，切入探讨芯片问题，将多年实务经验，化为一系列的教战准则与业界先进分享。您将会了解到：

	如何应用可靠性验证来降低IC的客退率?
	如何快速拟定可靠性验证计划
	ESD/EOS的验证手法介绍

时间	內容	主讲人
12:30-13:20	报到
13:20-13:50	芯片不良对终端产品之影响性	宜特科技│中国区 崔革文总经理
13:50-15:30	如何应用可靠性验证来降低IC的客退率? (1)从常见失效模式来探讨IC设计前期须对应的可靠性验证 (2)快速拟定可靠性验证计划	宜特科技│可靠性工程处 曾邵钧工程处长
15:30-15:40	茶歇
15:40-16:40	ESD/EOS故障模式及分析结果实例分享	宜特科技│可靠性工程处 曾邵钧工程处长
16:40-17:00	Q&A

详细介绍：请点击查看会议邀请。
报名方式:请点击「立即报名进行在线报名。即日起额满为止，欲报从速

meteel

IC芯片可靠性验证.菜鸟想去，不知道听不听得懂。

闲情

很好的学习机会。

yeh

IC芯片可靠性验证,很好的学习机会。

admin