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温度循环新问题

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发表于 2007-7-25 16:17:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
各位大虾,产品Qualification中温度循环试验的测试条件和实际生产screening用温度循环条件一样吗?
我见过很多公司这两个温度循环的温度变化率和在极端温度下的停留时间都不一样!谈谈你们的看法!
发表于 2007-7-25 23:46:36 | 显示全部楼层
这是两个不同的阶段,试验条件可能不一样,也有一样的,但是很少,除非你们家老板很有钱,肯投资,而且生效率也能跟得上,如果跟不上的话就有可能会出现上述情况。
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发表于 2007-7-27 00:10:56 | 显示全部楼层

你如果做PCB主板,那要符合IPC规范,根据IPC,5.6.7.2规定对冲停留时间15分钟

你如果做PCB主板,那要符合IPC规范,根据IPC,5.6.7.2规定在高温125度,低温-55及-65度对冲停留时间15分钟,转换时间4分钟
你如果做IC及封装测试,那要符合MIL美军标规定,在高温125度及低温-40度对冲停留时间30分钟,转换时间3分钟.
你如果做二极管及其他电子元气件,根据JIS及IEC规定,在高温150度及低温-55度对冲停留时间30分钟,转换时间3分钟.......
你如果还有其他问题请及时连线:13601792105王先生,或者aees@aees.cn,24小时为你解答.谢谢大家对我的支持,
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发表于 2007-7-27 09:00:35 | 显示全部楼层
留位待看,欢迎讨论。。
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发表于 2007-7-27 14:56:30 | 显示全部楼层

鉴定试验与筛选实验的温度循环条件的区别

筛选实验是为了将产品的早期失效提前暴露,因此我司在进行筛选试验中的温度循环与鉴定试验相比,两端点的温度高,温变绿快但是停留时间比鉴定试验短,是为了在超规格的条件下不引入新缺陷。其中尤其是温变率在筛选实验中为鉴定试验的15倍
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 楼主| 发表于 2007-7-30 16:05:14 | 显示全部楼层

筛选试验比鉴定试验更严格?

一般产品出厂前都要经过筛选试验,按5楼的说法,那就是筛选实验都要使用温变率超快的快速温度变化试验箱,我觉得一般厂家都不大可能买如此多得快温变,毕竟价格太高了!我现在是越来越晕了!!!
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发表于 2007-8-3 13:21:44 | 显示全部楼层

回复 #6 cc20061212 的帖子

你不一定要等到放进产品在升温吧?特别是全部产品需要筛选时。
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发表于 2007-8-4 09:14:22 | 显示全部楼层
也不一定要在温变率上区别吧,温度取值上可以有所差别啊,筛选正如2楼的fanweipin版主所说,除非你们老板有钱,不然全部产品的筛选,哪能和温度循环试验的测试条件一样呢。
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发表于 2007-8-7 11:14:16 | 显示全部楼层
批量生产前和开始批量生产的温度循环严酷等级是不一样的,开始批量生产的等级没有在批量生产前的那么严酷.
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发表于 2007-8-9 18:57:53 | 显示全部楼层
个人认为条件不是一样的,Qualification规定的应该为环境鉴定试验的条件,主要考核产品的环境适应性,一般为产品在生产、运输、贮存、使用中的极端条件,ESS则为加速应力环境,ESS的目的为筛选出有故障产品,但不能对好的产品产生损伤。
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