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JESD47H Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits.pdf

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发表于 2011-3-22 23:31:53 | 显示全部楼层 |阅读模式
集成电路可靠性试验常使用的标准

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admin + 5 谢谢分享.

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发表于 2011-3-23 08:45:05 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享.摘录部分内容:

Thisstandarddescribesabaselinesetofacceptancetestsforuseinqualifyingelectroniccomponentsasnewproducts,aproductfamily,orasproductsinaprocesswhichisbeingchanged.
Thesetestsarecapableofstimulatingandprecipitatingsemiconductordeviceandpackagingfailures.
Theobjectiveistoprecipitatefailuresinanacceleratedmannercomparedtouseconditions.FailureRateprojectionsusuallyrequirelargersamplesizesthanarecalledoutinqualificationtesting.Forguidanceonprojectingfailurerates,refertoJESD85MethodsforCalculatingFailureRatesinUnitsofFITs.Thisqualificationstandardisnotaimedatextremeuseconditionssuchasmilitaryapplications,automotiveunder-the-hoodapplications,oruncontrolledavionicsenvironments,nordoesitaddress2ndlevel
reliabilityconsiderations,whichareaddressedinJEP150
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发表于 2011-6-10 13:32:36 | 显示全部楼层
学习一下
谢谢楼主
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发表于 2011-8-19 19:29:28 | 显示全部楼层
学习。。。现在遇到一个IC将金线换成铜线的评估
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发表于 2013-8-30 16:45:20 | 显示全部楼层
感谢分享,学习ing
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发表于 2020-9-16 16:21:52 | 显示全部楼层
正需要, 雖然現在已經進版至K版
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发表于 2020-10-24 12:42:46 | 显示全部楼层
有谁能分享下K版吗!
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