二极管可靠性试验

happyfan

顶一下

lizaidian

这个不知道为什么没有振动方面的试验

tjhirel

我们公司也做二极管实验，但感觉与贵公司的条件有一些不同，例如HTRB实验，标准要求Tj=150C当材料漏电流不同时，造成反相消耗的功耗也就不同，因此Ta会不同，也就是说并不是所有材料都用同一个温度125C去做实验，这个温度需要根据不同材料去调整

wqpye

附件看了，有几个问题：
1、第六项试验中，IR=IO是什么意思？是IF=IO的笔误？还是其他的什么规定？希望有高手指点。
2、最后两项HTRB（HIGHTEMPERATUREREVERSEBASE）和HTIB（HIGHTEMPERATUREINVERSEBASE——我的理解）的差别是什么？当然我看到了两项试验的温度不一样，但我的理解应该是对于结温不一样的产品应选择不同的温度进行试验。两项应该是一个试验。
3、高压蒸煮做24H

wqpye

（继续）
3、高压蒸煮做24H的意义大吗？通常认为做2~4H就够了。24H的结果和4H的结果差异大吗？想知道这一点。
4、从文本上看，这是一家台资或与台资有渊源的工厂的标准。国标GB/T6351（等效IEC的标准）其实对二极管的可靠性试验有明确的规定，不知道有没有行家按两个标准做过试验，并对比结果。
上述问题真心希望得到高手解答。
先谢了。

tjhirel

PCT我们做到过24H甚至到192H，结果当然不一样，那要看你期望的元件寿命是多少，如果期望寿命为15年，至少应该做到96H，如果想看早期失效，2小时也够了。

wqpye

非常感谢tjhirel的解答。
还有一个问题：PCT试验的时间选择与失效模式是否有关？在我的理解，经过PCT试验，在较短的时间内失效可能是由于水汽渗入，导致漏电流增大，经过烘烤后往往可以恢复；而长时间的试验后的失效，可能就与水汽渗入后对金属层的腐蚀有关了。
LZ的资料是关于二极管的，而对于二极管而言，腐蚀的影响是比较小的，因此可以选择较短的时间。
这种理解是否错误？请高手解答。
谢谢！

tjhirel

对于二极管，整流桥产品，在PCT实验中我们是这样理解的
1.PCT试验的时间选择与失效模式是没有关系的，材料在PCT实验之后，如果有失效，通常是可以恢复的，PCT时间越短，恢复的几率越高。当然96H后的PCT一样会有恢复。有的甚至不需要烘烤。这就是为何在PCT结束后，对于产品的测量时间，存放位置必须有统一的要求，否则可能是实验数据没有可比性。
至于失效，一般而言就是漏电流变大，甚至反向击穿，这种情况有时是由于实验结束后，测量电性时，造成的进一步失效。这就是为何可能见到PCT失效的材料，竟然会见到材料被烧穿的痕迹，
另外在PCT实验中，一般和少讲到对材料的腐蚀，因为他的能力还不够。这就是为何还会有其它类似的实验，如H3TRB，HastBais等，需要借助电压，来做进一步实验
2.还是向我在以前的回复中所讲的，PCT实验时间的确定不是因为水蒸汽对二极管腐蚀较小，就可以选择较短的时间，而是由你要预估寿命来决定的。
PCT2~4H，用来评估产品早期失效，检查制成是否有异常。
24H，可以预估产品寿命到1~5年，48HPCT可以预估到产品5~10年，96HPCT可以预估的产品15年（这些预估可以参考Hallberg-Peck模型来得出）

以上是对二极管的一些认知，欢迎各位对于其它产品也给予介绍

JOJO781214

谢谢，好东东啊！

wqpye

非常感谢tjhirel的解答。