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温度循环的几个问题

 火... [复制链接]
发表于 2012-3-2 13:59:49 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近做温度循环测试,有几个问题请教下各位大虾:
1.根据公式,SS=1-exp{-0.0017*(R+0.6)^0.6*[ln(e+v)]^3*N},我做的测试是-40到+85度的温度循环,温变率5度/MIN,从公式看得出,100个循环SS已经很近似等于1,那么做完100个循环的筛选度是否等同于1000个循环的筛选度?
2.如果筛选条件变为:-55到+125度,同样的1000个循环,差别在哪里?与-40到+85比较,如果评估应力的增加是多少?
3.温度循环的加速因子怎么求?如果做完1000个循环,可否评估元件的寿命?
发表于 2012-3-2 20:06:57 | 显示全部楼层
好难啊!求高手解释
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发表于 2012-3-3 14:51:25 | 显示全部楼层
非常期待高手答案...
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发表于 2012-3-3 16:34:49 | 显示全部楼层
平时只机械的做试验,这个还真不知道,顶起,等待高手解答~~
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发表于 2012-3-3 21:20:43 | 显示全部楼层
下面的应该对你有帮助!!!

AcceleratedReliabilityTestingofSurfaceMountSolderAttachments

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发表于 2012-3-3 21:29:17 | 显示全部楼层
温度循环来评估寿命,没有见过成熟的加速模型,希望有大师来指点;
我的经验温度循环(高温变率)或thermalshock主要是利用不同材料和结构有不同的热涨冷缩的物理特性,来评估表面粘贴的器件与PCB的连接。
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发表于 2012-3-4 09:23:52 | 显示全部楼层
一直以来的困扰,还没有找到固定的计算方法,都是按照不同的产品特性来设计的
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发表于 2012-7-27 14:51:44 | 显示全部楼层
学习学习
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发表于 2012-8-2 14:09:43 | 显示全部楼层
谁能回答一下呢?
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发表于 2012-8-3 16:02:57 | 显示全部楼层
没人解惑
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