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楼主: lixiong198417

求助失效模式、影响及其诊断分析(FMEDA)分析

 火... [复制链接]
 楼主| 发表于 2012-3-29 22:42:39 | 显示全部楼层
谢谢!admin老大帮忙高亮。
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 楼主| 发表于 2012-3-29 23:08:16 | 显示全部楼层
回复9#laoge2012
虽然这份文件已经有了,但还是谢谢!
这家做FMEDA应该是顶尖的,他们的分析是建立在他们失效库基础上的(他们的失效库不对外开放)。
可以他们借鉴一些方法,但还得建立自己的失效库。
我们现在的问题点是IC的失效怎么定(也可以理解为IC的失效库建立的问题)。
如果按照TUV的建议对设计没有帮助。
如果IC的每个输出Pin进行失效判断,这个得要对相应的输入IC(即分析IC的输出Pin的接受方)非常了解(可能得要不亚于原厂技术支持才行)。并且之前跟原厂的技术支持了解过,他们的回答一般是可能这样。。。。
您能不能帮忙介绍几个在方面有比较深入了解的专家?
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匿名  发表于 2016-6-17 16:52:46
laoge2012发表于2012-3-2808:21
FailureModes,EffectsandDiagnosticAnalysis

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你好没能发给我份资料吗
匿名  发表于 2016-6-17 16:52:49
laoge2012发表于2012-3-2808:21
FailureModes,EffectsandDiagnosticAnalysis

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你好没能发给我份资料吗
匿名  发表于 2016-6-17 16:52:51
laoge2012发表于2012-3-2808:21
FailureModes,EffectsandDiagnosticAnalysis

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你好没能发给我份资料吗
匿名  发表于 2016-6-17 16:52:51
laoge2012发表于2012-3-2808:21
FailureModes,EffectsandDiagnosticAnalysis

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你好没能发给我份资料吗
发表于 2016-9-7 11:50:53 | 显示全部楼层
我参加过TUV的培训,他们介绍的方法是,对于大型的集成芯片,如CPU、DSP之类的芯片,可以先按功能进行分析,失效率占90%,再按照引脚的开路和短路进行分析,失效率占10%。功能失效的失效模式一般会包括内核失效,时钟失效,复位失效,ram失效,flash失效、外部功能失效等等。
希望对你们有些帮助
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发表于 2016-11-12 16:04:59 | 显示全部楼层
要对复杂芯片进行分析太难了,曾经问过很多硬件工程师,他们都说不清楚。个人觉得以公司现有资料为基础,逐步建立失效库是最有实际意义的。如果芯片厂家有失效资料那就更好了。
如果有大量的使用经验,得到的实际数据,是第一优选;其次是厂家提供的资料;再次才是自己预计的数据。因为预计和分析的毕竟是假设条件下得到的,就目前国内的情况而言,不如统计和试验的来的实用。如何通过理论分析和预计对设计有实际意义,还有很长的路要走。
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发表于 2019-3-6 14:18:49 | 显示全部楼层
好东西,谢谢分享
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