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光电二极管的环境测试

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发表于 2007-8-15 14:25:07 | 显示全部楼层 |阅读模式
光电二极管做了高温存储,低温存储,震动和冲击等等。高温存储2000小时失效1个,其余的没有失效的。通过2000小时。试验完成后我应如何分析?其余的试验合格能说明什么问题吗?
 楼主| 发表于 2007-8-15 14:35:07 | 显示全部楼层
我发现论坛上很少有可靠性的案例,象我这样的菜鸟都不知道做实验是干吗的!做实验的程序是什么?做了之后要产出什么东西。最好有个象研发设计规划书似的东西。为什么我们要做这个试验(研发这个产品)?有人肯定会说是验证产品的可靠性了。我们做这个实验要达到一个什么目标,我们的日程计划等等。现在做实验只是为了做而做。要达到什么目标。
我个人认为做可靠性也最好做个规划书
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发表于 2007-8-15 15:41:53 | 显示全部楼层
试验程序可以参考相关标准啊!做可靠性的目的在论坛的很多资料里都提到了,您所说的规划书在我们的第一期网刊《可靠性.中国》里面有一篇投稿:2007年可靠性规划书,是hukee的投稿!可以参考下!
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发表于 2007-8-15 18:07:58 | 显示全部楼层
原帖由homzi于2007-8-1514:25发表
光电二极管做了高温存储,低温存储,震动和冲击等等。高温存储2000小时失效1个,其余的没有失效的。通过2000小时。试验完成后我应如何分析?其余的试验合格能说明什么问题吗?

呵呵,针对试验数据,失效了,我们需要进行失效分析,分析产生原因,从而避免,达到0失效==〉也就是我们的产品的质量达到预计的目标了。就我们公司做可靠性试验的最明显的优势是:发现产品早期失效模式,反馈到设计,更改后再次验证提高产品的可靠性。现在大家论坛里好多都运用试验数据进行MTBF的预计。这些对于公司领导和客户是比较关心的。呵呵
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发表于 2007-8-15 19:01:12 | 显示全部楼层
angel8679版主说得就是现在很多大家在可靠性上做的比较多的失效分析。而真正的寿命计算,显然论坛里讨论的不多,因为这是定量的,数理统计,计算等方面的。所以关心的人不多吧。
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发表于 2007-8-16 21:51:05 | 显示全部楼层
看你的规格和你的二极管的要求了
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 楼主| 发表于 2007-8-17 08:54:05 | 显示全部楼层
多谢各位大师的指点,受教了!
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发表于 2007-10-18 11:38:02 | 显示全部楼层
樓主在嗎?xl0510@hotmail.com
加我!
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