通信模块宽带冲击的筛选方法

xiaoxie · 发表于 2012-12-7 14:38:27

最近模块失效率高，初步怀疑是MOSFET的失效引起，后选定一种宽带冲击和温度冲击方法能够筛选出一部分故障，但是此方法属于破坏性，不知道那种鉴定或验收试验能否相似可以借鉴，谢谢

wenfeng3652 · 发表于 2012-12-10 09:22:04

类似这种失效不建议用筛选的方法，用温度冲击能够发现部分故障，说明产品本身却是存在薄弱点，需要改善降低失效率，筛选的目的是剔除早期失效，而不是像IQA那样做sorting的工作

weijia0219 · 发表于 2013-1-17 09:29:17

对啊，怀疑是MOSFET引起的，就应该想方法去证明，然后通过改变设计的方法（如使用更高规格的MOSFET)，来降低失效，而不是亡羊补牢！

zz_hf013 · 发表于 2013-3-21 09:23:43

赞同3楼的想法

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