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关于高加速寿命试验的问题

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发表于 2013-3-13 14:45:42 | 显示全部楼层 |阅读模式
请教各位高手,PCB板在做高加速寿命试验时,先完成了低温步进试验,后在高温步进试验的过程中更换了一种元器件,那么请问低温步进试验还要重新做吗?
发表于 2013-3-14 11:08:32 | 显示全部楼层
不需要吧。
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发表于 2013-3-14 11:21:02 | 显示全部楼层
最好是低温也再做一遍比较保险,有些元器件在低温时会启动不了。当然如果评估无这方面风险的话,也可以不做
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发表于 2013-3-15 08:42:55 | 显示全部楼层
为什么更换零件?如换了不同供应商,建议再做一次。
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发表于 2013-3-15 09:06:38 | 显示全部楼层
最好是重新做一遍,不管是供应商是不是同一家,都不能保证你换的新零件在低温下的正常运行
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发表于 2013-3-18 11:17:16 | 显示全部楼层
再做一遍较好。
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发表于 2013-3-20 22:00:22 | 显示全部楼层
本帖最后由squallgao于2013-3-2522:23编辑

中文输入法可以用了。。哈哈。。

更新一下,没注意到你是说的更换元件。。。
以为你是换新sample呢,如果是同一批sample,更换后不用再测试。

如果是针对sample的元件更换。
任何的更改都要重新进行验证。特别是对环路,保护电路,检测电路的更改。。
除非你对此元件的更换有相当大的把握,例如以前做过此元件/电路的对比。。。

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发表于 2013-3-21 08:30:10 | 显示全部楼层
再做一遍较好
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发表于 2013-3-25 10:05:38 | 显示全部楼层
关键是更换了一种元器件,还是一个元器件。
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发表于 2013-4-1 11:03:44 | 显示全部楼层
更换了一种元器件,是因为这一种元器件失效吗?是的话要重做
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