6/24宜特上海场-28纳米芯片设计关键密码免费专场研讨会

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面对日新月异的竞争市场，芯片设计企业除了要快速将产品量产上市，同时更需关注芯片设计/制作的质量，过往的「功能设计DesignForFunction」观念已无法满足消费者对于产品质量的要求，新的观念是在设计初期即导入该项产品生命周期的任务使命，也就是所谓的「可靠性设计DesignForReliability」，降低未来量产时，产品失效导致的客诉退货机会。
此外，芯片在开发/量产/客退的失效分析与除错效率，也是分秒必争的关键。尤其在制程迈向28/20纳米先进制程的失效分析更是困难。如何针对各种不同的IC失效模式，选择最正确有效的程序，来加速分析效率与节省分析成本?如何正确解读分析结果，进一步判断修改方向?这是许多芯片设计开发者经常面临的问题。

iST宜硕科技(上海)特别邀请台湾总部-iST宜特科技具20年丰富经验的半导体专家，分别就芯片失效现象、可靠性与失效分析的不同面向观点，切入探讨芯片问题，将多年实务经验，化为一系列的教战准则与业界先进进行分享。

　

时间	内容
8:30-09:00	报到
09:00-10:30	如何从客退品之故障模式，评估芯片设计前期需关注哪些可靠性验证? 常见芯片失效模式与失效原因 失效模式对应之可靠性验证方法
10:30-10:45	免费茶歇
10:45-12:30	借鉴市场常见失效案例，如何拟出自家可靠性验证防范对策? 失效模式管理与防范对策
12:30-13:30	免费午餐
13:30-14:45	如何正确选择失效分析工具，判断芯片缺陷的修改方向? 芯片失效模式分析流程
14:45-15:00	免费茶歇
15:00-16:20	如何克服先进制程在失效分析上的限制与挑战? 失效分析工具应用与案例分享
16:20-16:30	Q&A

讲师简介
曾劭钧
现职：iST宜特科技台湾总部可靠度工程处副处长
经历：矽品&凌越科技等IC可靠度试验规划与执行，IC可靠度教育训练讲师与技术咨询，在IC验证规划、寿命分析与可靠度工程验证技术有相当丰富经验

庄凌艺
现职：iST宜特科技台湾总部宜特科技故障分析工程处资深经理
经历：曾任职于友达光电、台积电、华亚科技，超过14年电子产业经验，工作期间曾获多项国内外专利，特别在产品工程、良率提升及产品故障失效之分析有丰富经验。



报名信息
参加对象：芯片设计厂之研发、质量保证、制程等相关工程人员

课程地点：上海市徐汇区漕河泾900号三楼报告大厅(漕河泾开发区)(查看地图)

课程时间：2013年6月24号（星期一）

洽询专线：iST宜硕科技业务窗口:+86-21-6406-9881分机2280何小姐


iST宜特科技窗口:
+86-512-5763-9600分机6501江小姐
Email:is@isti.com.cn


报名方式：请上宜特网站在线报名http://www.isti.com.cn/schinese/2_news/02_seminars_detail.php?ID=69

参加费用：课程免费，请携带名片一张


注意事项
主办单位保留报名资格之最后审核权利，并于活动前一周以E-mail寄发「课前通知」，以示您的参加资格。请于活动开始前进行报到。
未能准时报到或当天无法出席之学员，本论坛无法为您保留讲义与座位，亦无法提供讲义电子文件。
若因不可预测之突发因素，主办单位保留变更论坛时间、议程内容及相关事项之权利。
现场报名之学员，主办单位视现场状况保有开放进场与否之权利。

　

主办单位:iST宜特科技台湾总部
iST宜硕科技(上海)有限公司

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下次什么时候有啊。