关于低温存储试验的加速因子的计算如何进行

cooooldog · 发表于 2009-4-8 11:37:20

这个需要试验数据的吧,Arrhenius理论不一定总是有用的

justinbk · 发表于 2009-4-8 15:04:43

看你想针对的是何种失效机理。每一种失效机理都有对应一种或多种的应力可以进行加速，高温仅仅是提供一个普遍意义上范围较广、作用较明显的应力条件，低温同样可以起到加速，比如JESD22-A119中就提到低温对非易失性存储器数据保持能力的检验。
而通常所说的温度加速一般都以室温25℃或附近的温度作为参考，因为器件设计是大多参考这个温度进行设计和量化，故而10度法则也是这样适用的，适当降低温度确实可以延长器件的使用寿命，但不是无限制降低，过低的温度照样会导致器件故障，因此芯片既有高温极限也有低温极限。但通常来说，室温（或室温附近）是最佳环境，能自然就能提供这样的使用环境，就不需要附带加热或降温设备。但任何事物都有两个方面，高温可以使部分失效机理得到加速，低温也可以，只是作用的机理方面不太一样而已。

micky · 发表于 2009-8-10 22:38:24

我很赞同楼上的观点，低温的失效机理和高温是不一样的，自然所适用的加速模型也不相同。

zhurenmei2007 · 发表于 2009-9-4 08:40:58

顶，对低温加速因子如何计算，使用什么模型，我也搞不明白，希望高人现身讲解。

xztdlfz1 · 发表于 2009-9-10 23:58:23

顶一下，看看有没有哪位高手接触过低温加速的问题。

kqsadam · 发表于 2009-11-1 01:15:03

期待高手出来讲解一下

amyliu2009 · 发表于 2010-4-27 11:44:56

只見過高溫加速模型
有關于低溫加速方面，似乎只有高低溫循環測試時有所涉及

deadxiaoh · 发表于 2010-6-10 16:47:00

只有搞清楚低温的失效机理才有可能找出模型

gwncc123 · 发表于 2010-6-10 21:55:56

我也觉得不论是低温还是高温，用什么模型主要看产品的实效机理是什么。只是好像真的没有见过有关低温加速的文章，期待高人指点。。。

@@那@@ · 发表于 2010-7-16 19:45:01

期待中。。。

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关于低温存储试验的加速因子的计算如何进行

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