第53届产品质量和完整性的国际论坛论文目录
美国RAMS2007年会于2007年1月22–25日,在美国拉斯维加斯顺利召开,大会共交流文章100余篇,会议主题为:“可靠性和维修性发展前沿”。现将目录整理如下:
1.大会主席致词及要点发言
大会主席:V.WilliamWessel,NASAGlenn研究中心
要点发言:ScottJ.Horowitz博士,NASA的副行政官,探测系统工作组
ScottJ.Horowitz博士是探测系统工作组的副行政官。他曾经是一个NASA宇航员,一个退伍的美国空军团长,他将领导机构开发国家新的航天事业,将宇航员送到月球,到火星和太阳系其他星球旅行。
2.大会交流文章
1A可靠性的概率方法与统计方法
DavidW.Coit博士,来自Rutgers大学
文章介绍可靠性的概率生命时间模型和统计模型。串联系统,并联系统,k-out-of-n系统,最小路径调整,设置最少相交是某些主题关注的焦点。应用统计学方法能够完成或正确检查这些被强调的数据。最后,针对可修理系统的可靠性,解释相似泊松和非相似泊松分布处理的概念。
1B基本可靠性:设计、工程、测试与管理
KailashC.Kapur博士,来自华盛顿大学
这篇文章对与系统生命周期相关的基本元素的可靠性给出了一个总的看法。接下来要揭示的主题是:介绍可靠性和一些全球性观点,可靠性方法在工业的使用情况,系统可靠性,设计与开发阶段的可靠性行为,可靠性评估,和执行与管理RAM处理。
1C利用经验方法进行电子诊断
J.WesleyHines博士,来自Tennessee大学,
本指南说明了使用经验方法的总体原则。焦点是大量的计算机服务和数据中心。给出了用于诊断的经验方法的背景,以及电子方面的应用说明。
1D系统安全:原理和实践
DevG.Raheja,PE,CRE,DesignforCompetitiveness,Inc,andBrianMoriarty,NorthrupGrumman公司
文章说明了系统不安全的根本原因,以及怎样利用这些知识开发安全设计,并且费用更低。并为那些希望了解系统安全实际应用的人准备,并包括一定数量的历史案例。
2C动力学设计
MadhavS.Phadke博士,PhadkeAssociates公司
文章供了一种证明方法,质量专业人员、工程师和管理人员能够利用它迎合产品市场的挑战,提供高质量并且能够买得起的产品。本课的重点是,在产品实际处理的各个阶段,怎样测量一个产品或处理过程的质量,以及怎样优化最小实验质量。
2D失效模型的物理失效步骤和结果分析
MilenaKrasich,PE,Bose公司
在潜在的失效提供了一个失效模型发生的可能性更深入的工程分析之后,再来理解物理学给出了更有效并有防御性的可靠性改进意见。
[本帖最后由passway于2007-9-1020:05编辑] |