哪些试验是加速试验？它们对应的模型分别是什么？

keegan

在电子产品可靠性试验中，到底哪些试验是加速试验？湿度是加速的因素之一吗？对应着不同的加速因素，用来计算的模型分别是什么呢？
请各位不吝赐教。

gykhl

你的产品是什么？我们做电子产品一般都是Arrhenius模型，把温度作为加速因子，因为温度是电子产品失效的主要因素。
常用的是这些吧：
1.ArrheniusModel：温度作为加速因子
2.Eryingmodel：两个以上加速因子（温度，电压）
3.Coffin-Manson：温度循环作为加速因子
4.Hallberg-peckModel：湿度作为加速因子
5.InversePowerLawModel：电压，振动，冲击...（结构件）作为加速因子

keegan

gykhl发表于2013-11-2914:27
你的产品是什么？我们做电子产品一般都是Arrhenius模型，把温度作为加速因子，因为温度是电子产品失效的主...

我们的产品是内存芯片。

gykhl

keegan发表于2013-12-313:32
我们的产品是内存芯片。

那就是Arrennius模型了