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QRE实验室测试依据及其判定标准

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发表于 2014-8-10 08:26:01 | 显示全部楼层 |阅读模式
小弟刚接触QRE这边,
下面是我司(做陶瓷电感电容等电子元器件)的试验条件,
但也不知道采用是哪个标准,
哪位朋友知道请指点一下?


0、高温实验:125℃0%96H
1、低温实验:-40℃0%96H
2、高温高湿实验:60℃90%96H有时加载偏流
3、耐高温实验:85℃0%96H有时候加载偏流
4、冷热冲击实验:125℃预温区140℃30min室温5min低温-40℃预温-50℃30min循环100次。
5、振动实验:频率10~55~10HZ,振幅1~2MM,时间:1H。
6、跌落实验:高度:1M六个面、XYZ轴线棱、角各一次,共10次。
7、推拉力测试:施加500gf的力10s,观察是否紧致不松动。
8、IRReflow:观察样品经回流后的上锡效果,以及CCD下查看是否core裂。
9、纸箱抗压测试:纸箱封好后,从上正向缓慢加载一定的力,大于等于400kgf纸箱无明显变形能回弹判定合格。
发表于 2014-8-10 09:26:29 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2014-8-10 09:26:54 | 显示全部楼层
沙发自坐,居然都没人理。
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 楼主| 发表于 2014-8-18 18:23:44 | 显示全部楼层
貌似找到有说是MTBF测试方法:MIL-HDBK-217F谁有这个资料啊,给我一份怎么样
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发表于 2014-8-18 21:08:03 | 显示全部楼层
直接搜吧,论坛上有份英文版的!
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