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本帖最后由周鹏鲲Joe于2015-3-311:36编辑
活动名称：上海可靠性沙龙活动
时间： 2015年3月29日（周日）下午14：00——18:00
地点： 华测检测上海分公司会议室（上海市浦东新区新金桥路1888号金领之都43号楼1楼，靠近12号线金海路站，地图见图片)
报名方式： 按附件报名表内容填好(请报名时一定请附上你要分享的主题)，发邮件到zhoupengkun@cti-cert.com，主题为：上海可靠性沙龙报名
报名截止时间：2015年3月24日0：00
活动原则（只做分享交流，谢绝任何推广广告）： "开始后每人先做自我介绍，为了贯彻“交流、分享”的宗旨，要求每个参加者做准备发言，分享可靠性相关的知识、案例等，实在没有，也可以提出疑问、困惑等，最不济也可以介绍自己公司情况以及产品。请报名时请附上你要分享的主题，在截止前我们会建立一个讨论组，讨论组上将投票选出排名前5的主题在3月29日沙龙上进行分享(赠送移动电源一个)，分享后剩下的时间可以大家交流，如果有自愿上来讲的，也可以上来讲。希望沙龙能长期办下去，收集了的主题没在沙龙上分享的放在下一次分享。
人数：人数控制在60人以内，希望能有一些行业中的大牛来参加并分享，现在确认会出席并作分享的有上海电子学会可靠性专业委员会副主任委员卢申林。
可靠性沙龙报名前十，且报名表上附上分享讲解可靠性相关知识，案例的，奖励精美U盘一个！
上海电子学会可靠性专业委员会副主任委员卢申林将在此次活动上分享：
如何利用HALT试验结果进行产品可靠性评估
简介：
现在生产HALT设备的厂家众多，其实前篇一律，HALT试验方法已经越来越多的被众多行业所接受并广泛应用，其对产品可靠性的提高起到了很好的推动作用。其基本原理为何？是否存在某些缺陷？我们是否可以利用HALT试验的结果来进行产品可靠性的计算？HALT是不是只有温度和振动，还能做点其它的吗？林林总总现在没有人能够回答，但是这次你可以获得一个正确的解释？这是对于现有HALT理论的全新升级，第一次公开介绍。
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发表于 2015-3-2 15:15:26
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发表于 2015-3-2 23:27:35
。还是华测支持会议室啊，哈哈。
