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楼主: liling197933

GB 1772-79 电子元器件失效率试验方法

 火... [复制链接]
发表于 2016-4-20 10:24:55 | 显示全部楼层
为什么下载不了？
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发表于 2016-6-18 11:51:42 | 显示全部楼层
下下来看看
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发表于 2017-4-28 23:13:03 | 显示全部楼层
先学习一下！
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yeh
发表于 2017-4-29 07:04:08 | 显示全部楼层
预期寿命能合理地认为是服从指数分布的单批产品的失效率试验也可适用。
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发表于 2018-4-3 10:49:50 | 显示全部楼层
多谢，下来看看
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发表于 2018-8-18 15:27:51 | 显示全部楼层
79年的资料，是比较少见，看看
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