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求助:哪位同行,能够提供给有关微电子器件或半导体集成电路失效的详细分析的案例呢?

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发表于 2007-10-18 20:30:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
求助:哪位同行,能够提供给有关微电子器件或半导体集成电路失效的详细分析的案例呢?因为虽说看了不少有关微电子器件可靠性的书,其中西电大的居多,但在他们书中给出的失效机理和失效分析不系统,所以,我才向各位同行求助,有没有针对具体的微电子电路或器件,做详细的案例分析呢?
发表于 2007-10-19 08:36:30 | 显示全部楼层

失效分析

失效分析的案例多为公司的内部文件,看到的不多。

哪位有的话,方便传上来给我们看看吧,我也想了解一下。
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发表于 2007-10-19 12:49:26 | 显示全部楼层
楼上可以参照一本书:微电子器件试验方法和程序GJB548-96来得到你想要的信息。
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发表于 2007-10-22 11:53:40 | 显示全部楼层
可以看看国防工业出版社的“电子元器件失效分析与典型案例”电子五所编印,可能有帮助
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发表于 2008-9-16 09:33:32 | 显示全部楼层

我也求助一下

谁知道齿轮箱的故障树失效分析,我做了一个可以探讨,但是底事件的概率不知道怎么办
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