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楼主: yyy789

温度循坏掉的一般是什么原因？

发表于 2016-2-16 15:39:03 | 显示全部楼层

@北京-diec缺陷分为设计缺陷和制造缺陷，你怀疑这个案例更可能是哪种？

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发表于 2016-2-16 15:39:44 | 显示全部楼层

像这种成熟产品，我感觉制造缺陷可能性更大

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发表于 2016-2-16 15:40:33 | 显示全部楼层

恩，赞同你的解释。

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楼主| 发表于 2016-2-16 15:42:32 | 显示全部楼层

制造缺陷是指？

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楼主| 发表于 2016-2-16 15:42:49 | 显示全部楼层

MOS没焊接好？

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发表于 2016-2-16 15:47:21 | 显示全部楼层

你要先说一下失效模式是什么

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发表于 2016-2-16 15:47:46 | 显示全部楼层

然后展开FTA

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发表于 2016-2-16 15:48:29 | 显示全部楼层

其实MOS产品本身就和制造密不可分，很多是抄袭主要是看关键工艺管控

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发表于 2016-2-16 15:49:09 | 显示全部楼层

温循条件没问题的话，就要看内部连接处有没有问题了

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发表于 2016-2-16 15:49:12 | 显示全部楼层

没有失效现象描述和基本的电性分析很难猜的

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