加速寿命试验的类别和区别

linhuishe

在不改变产品的失效机理的条件下，通过提高工作环境的应力水平来加速产品的失效，尽快地暴露产品设计过程中的缺陷，发现故障模式，称这种超过正常应力水平下的寿命试验为加速寿命试验。
加速寿命试验有如下三种常见的试验类型。
（1）恒定应力加速寿命试验。在恒定应力加速寿命试验中，根据产品的失效机理选定一组逐渐升高的应力水平，它们都高于正常应力水平，在每个应力水平上投放一定量的受试样品进行寿命试验，直到每个应力水平均有一定数量的样品出现失效为止。
（2）步进应力加速寿命试验。先选定一组高于正常应力水平的加速应力水平，将受试样品在选定加速水平下由低向高逐渐提高应力水平，在每个水平上进行规定时间长度的寿命试验。这里规定时间长度一般视试验进行情况而定，一般原则是要在不同的加速应力水平上有一定量的累积失效样品。
（3）序进应力加速寿命试验。序进应力加速寿命试验与步进应力加速寿命试验原理基本相同，只是应力的改变是随时间连续变化的而非跳跃式增加。
从上述的定义来看，三者的区别不是很大。请教高手，恒定应力加速寿命试验和步进应力加速寿命试验的质的区别在哪儿？谢谢！

[本帖最后由linhuishe于2007-11-710:25编辑]

338

感觉要从恒定应力和步进应力，两个不同的失效机理上入手。

试验中，恒定应力和步进应力不同的失效机理，还请其它高手解答。

留位学习先。

fanweipin

加速壽命試驗按施加應力的方式分三種：恆定應力加速壽命試驗、步進應加速壽命試驗、序進應力加速壽命試驗
1、恆定應力加速壽命試驗：樣品在試驗期間所承受的應力保持不變；
2、步進應力加速壽命試驗：樣品在試驗期間所承受的應力按一定時間間隔階梯式階梯的增加，直到樣品產生足夠的退化為止；
3、序進應力加速壽命試驗：樣品在試驗期間所承受的應力按時間間等速增加，直到樣品產生足夠的退化為止。

這三個試驗有個共同點：要事先知道元件的老化機理在什麼應力范圍內保持不變。否則得到的加速結果是無效的

[本帖最后由fanweipin于2007-11-813:01编辑]

linhuishe

原帖由fanweipin于2007-11-812:58发表
加速壽命試驗按施加應力的方式分三種：恆定應力加速壽命試驗、步進應加速壽命試驗、序進應力加速壽命試驗
1、恆定應力加速壽命試驗：樣品在試驗期間所承受的應力保持不變；
2、步進應力加速壽命試驗：樣品在試驗期...

首先感谢你的回答。但有的专业书上讲的恒定应力加速寿命试验讲的与你不同，如原帖上的概念，我很迷茫。不知道那个正确。

jiji

就是两种模式
ＨＡＬＴ　＆　ＨＡＳＳ
第三种第一次看见，学习中

东城小家

步进应力加速寿命试验属于Halt中的啊......

338

HALT试验中，确实是使用步进应力的方法。
楼主的：

（1）恒定应力加速寿命试验。在恒定应力加速寿命试验中，根据产品的失效机理选定一组逐渐升高的应力水平，它们都高于正常应力水平，在每个应力水平上投放一定量的受试样品进行寿命试验，直到每个应力水平均有一定数量的样品出现失效为止。

感觉不对劲，"直到每个应力水平出现失效为止"怎么这么像步进应力试验一样啊。

fanweipin的

2、步進應力加速壽命試驗：樣品在試驗期間所承受的應力按一定時間間隔階梯式階梯的增加，直到樣品產生足夠的退化為止；

比较容易理解

Aries

原帖由linhuishe于2007-11-710:21发表
在不改变产品的失效机理的条件下，通过提高工作环境的应力水平来加速产品的失效，尽快地暴露产品设计过程中的缺陷，发现故障模式，称这种超过正常应力水平下的寿命试验为加速寿命试验。
加速寿命试验有如下三种常见...

现在有A,B,C三个应力水平，共有30个样品
恒定应力加速：A水平10个样品，B水平10个样品，C水平10个样品
三个水平的试验可以同时进行，当每个水平有5个样品失效时（这里假设是5个，也可以做到10个），试验停止，记录每个水平的试验时间。或者也可以让每个水平的试验时间一致，记录在每个水平下同样时间下失效样品的个数。
步进应力加速：30个样品都做A水平试验，做了一段时间后，把应力调到B水平，然后再做一段时间，把应力调到C水平。通常来说每个应力水平的试验时间会保持相同。
序进应力加速：随着时间的增加应力水平缓慢增加。比如说温度应力T满足这样一个渐变关系T＝20＋0.1×t（t：试验时间）。这个基本上没有啥工程应用的价值，目前，做做理论分析吧。

其实大家所说的加速试验和HALT/HASS试验是有很大差异的
通过上面三种加速试验，人们期望能够得到一些定量的东西，比如说产品能够用多久啊，加速因子啊什么的。但是HALT/HASS试验是不能回答定量的问题，只能做一个定性的回答，即便一个产品做HALT试验，把温度应力做到了200度。HALT试验也不能告诉你这个产品在20度下使用可以用多久，它只能说我产品在200度下都没有问题，所以有很大的把握其在日常使用时不会出问题。

另外对于加速试验，其实目前来说加速试验只是在基于GaAs技术的功率器件使用寿命上取得了比较大的成功，在Silicon工艺的器件上，也有较大的应用，但是相对于GaAs功率器件还是小很多。而对于整机而言则更是小之又小，因为试验数据的波动太大，而且失效机理也不尽相同，当然也可能是我眼界小，没有机会看到这方面的报道。