找回密码
 -注 册-
搜索
热搜: MTBF GJB MIL FMEA
查看: 8092|回复: 17

哪位大神有IEC 60749系列的国际标准?急求 谢谢

 火.. [复制链接]
匿名  发表于 2017-1-7 21:43:04 |阅读模式
哪位大神有IEC60749系列的国际标准?急求谢谢
发表于 2017-1-9 13:04:29 | 显示全部楼层
本帖最后由 sunjj 于 2017-5-4 08:46 编辑

本帖最后由sunjj于2017-1-1016:42编辑

Part1:General
Part2owairpressure
Part3:Externalvisualinspection
Part4ampheat,steadystate,highlyacceleratedstresstest(HAST)
Part5:Steady-statetemperaturehumiditybiaslifetest
Part6:Storageathightemperature
Part7:Internalmoisturecontentmeasurementandtheanalysisofotherresidualgases
Part8:Sealing
Part9ermanenceofmarking
Part10:Mechanicalshock
Part11:Rapidchangeoftemperature–Two-fluid-bathmethod
Part12:Vibration,variablefrequency
Part13:Saltatmosphere
Part14:Robustnessofterminations
Part15:Resistancetosolderingtemperatureforthrough-holemounteddevices
Part16articleimpactnoisedetection(PIND)
Part17:Neutronirradiation
Part18:Ionizingradiation(totaldose)
Part19ieshearstrength
Part20:Resistanceofplastic-encapsulatedSMDstothecombinedeffectofmoistureandsolderingheat
Part21:Solderability
Part22:Bondstrength
Part23:Hightemperatureoperatinglife
Part24:Acceleratedmoistureresistance–UnbiasedHAST
Part25:Temperaturecycling
Part26:Electrostaticdischarge(ESD)sensitivitytesting–Humanbodymodel(HBM)
Part27:Electrostaticdischarge(ESD)sensitivitytesting–Machinemodel(MM)
Part28:Electrostaticdischarge(ESD)sensitivitytesting–Chargeddevicemodel(CDM)(underconsideration)
Part29atch-uptest
Part30reconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevicespriortoreliabilitytesting
Part31:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(internallyinduced)
Part32:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(externallyinduced)
Part33:Acceleratedmoistureresistance–Unbiasedautoclave
Part34:Powercycling
Part35:Acousticmicroscopyforplasticencapsulatedelectroniccomponents
Part36:Acceleration,steadystate
Part37:Boardleveldroptestmethodofcomponentsforhandheldelectronicproducts(tobepublished)
Part38:Softerrorratetestingofelectroniccomponents(underconsideration)
Part39:Measurementofmoisturediffusivityandwatersolubilityinorganicmaterialsusedforsemiconductorcomponents(tobepublished)
Part40:Boardleveldroptestmethodusingastraingauge


——第1部分:总则;
——第2部分:低气压;
——第3部分:外部目检;
——第4部分:强加速稳态湿热试验;
——第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验;
——第6部分:高温贮存;
——第7部分:内部水汽含量测试和其他残余气体分析;
——第8部分:密封;
——第9部分:标志耐久性;
——第10部分:机械冲击;
——第11部分:快速温度变化-双液槽法;
——第12部分:变频振动;
——第13部分:盐气;
——第14部分:引线牢固性(引线强度);
——第15部分:通孔安装器件的耐焊接热;
——第16部分:粒子碰撞噪声检测(PIND);
——第17部分:中子辐射;
——第18部分:电离辐射(总剂量);
——第19部分:芯片剪切强度;
——第20部分:塑封表面安装器件的耐湿和耐焊接热;
——第21部分:可焊性;
——第22部分:键合强度;
——第23部分:高温工作寿命;
——第24部分:加速耐湿-无偏置强加速应力试验;
——第25部分:温度循环;
——第26部分:静电放电(ESD)敏感度试验-人体模式(HBM);

——第27部分:静电放电(ESD)敏感度试验-机械模式(MM);
——第28部分:静电放电(ESD)敏感度试验-器件带电模式(CDM)(考虑中);
——第29部分:门锁试验;
——第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理;
——第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的);
——第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的);
——第33部分:加速耐湿-无偏置高压蒸煮;

——第34部分:功率循环;
——第35部分:塑封电子元器件的声学扫描;
——第36部分:恒定加速度;
——第37部分:手持电子产品用元器件桌面跌落试验方法;
——第38部分:半导体器件的软错误试验方法(考虑中);
——第39部分:半导体元器件原材料的潮气扩散率和水溶解率测量。

本帖子中包含更多资源

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?-注 册-

×
回复 1 0

使用道具 举报

发表于 2017-1-9 13:05:19 | 显示全部楼层
全部不可能,要哪个?
回复

使用道具 举报

发表于 2017-1-10 16:08:47 | 显示全部楼层
——第26部分:静电放电(ESD)敏感度试验-人体模式(HBM);
回复

使用道具 举报

发表于 2017-5-3 14:22:42 | 显示全部楼层
sunjj 发表于 2017-1-9 13:04
本帖最后由sunjj于2017-1-1016:42编辑

Part1:General

大神,能否我一份标准:——第33部分:加速耐湿-无偏置高压蒸煮;

谢谢! willblack@foxmail.com
回复

使用道具 举报

发表于 2017-5-4 08:29:24 | 显示全部楼层
sunjj 发表于 2017-1-9 13:05
全部不可能,要哪个?

多上载一些,thanks
回复

使用道具 举报

发表于 2017-6-9 11:31:55 | 显示全部楼层
有没有IEC-60749-5标准
稳态湿热偏置寿命试验
回复

使用道具 举报

匿名  发表于 2017-7-7 14:39:03
可以给我个 第5和23部分的资料么
发表于 2017-10-27 17:39:49 | 显示全部楼层
chenbhu 发表于 2017-6-9 11:31
有没有IEC-60749-5标准
稳态湿热偏置寿命试验

您好,您找到IEC60749-5的稳态湿热偏置寿命实验的标准了吗
回复

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | -注 册-

本版积分规则

QQ|Archiver|手机版|小黑屋|可靠性网 ( 粤ICP备14066057号 )

GMT+8, 2025-4-5 08:00

Powered by Discuz! X3.5

© 2001-2023 Discuz! Team.

快速回复 返回顶部 返回列表