HTOL和HALT实验的基本原理和区别是什么？

kery105 · 发表于 2017-12-17 14:53:19

ATM · 发表于 2017-12-20 11:17:57

应该是HALT$Hass吧？！

hlh · 发表于 2017-12-22 17:00:08

应该是高加速应力筛选和高加速寿命

小鹰击长空 · 发表于 2017-12-31 22:51:30

HTOL 高温使用寿命测试(High Temperature Operating Life)，主要用于半导体器件（如IC）高温耐久性测试，考察失效机制如电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性，离子玷污等。
HALT 高加速极限试验（High Accelerated Limit Test），为定性加速可靠性试验，通过逐步对产品施加试验应力，获取产品的工作、破坏等极限，快速暴露产品的薄弱环节，结合实际情况寻求改进，主要在设计初期进行，是可靠性增长试验。

文哥Kevin · 发表于 2018-1-1 12:31:11

1.HALT:Highly Accelerated Life Test

应用于BLR-PCBA,Module,System product设计开发阶段,以者出设计缺陷为目的
2.HASA/HASS:Highly Accelerated Stress Audit, Highly Accelerated Stress Screen.
应用于PCBA/模快/终端产品批量生产质量控制手法
Note: HALT/HASA/HASS为一种可靠性验证/质量控制的方法,非国际规范.国际各大厂均有制订对应方法与流程
3.HTOL: High Temperature Operation Life
芯片高温寿命验证,可参考JESD22-A108

空白页 · 发表于 2018-1-7 10:34:45

halt 与 hass有自己的标准嘛

fredwang789 · 发表于 2018-4-5 19:53:08

学习了

黎剑坤 · 发表于 2020-9-16 10:44:52

多谢多谢

		自动登录	找回密码
密码			-注册-

HTOL和HALT实验的基本原理和区别是什么？

浏览过的版块