高加速寿命试验(HALT)与高加速应力筛选(HASS)

nochoice · 发表于 2009-3-26 21:18:04

好文章。
谢谢LZ了

rogerlee · 发表于 2009-3-30 21:34:20

这东西不错，先下来看看

北泽狼 · 发表于 2009-4-11 17:12:31

多些，收藏了

sunm · 发表于 2009-5-10 21:43:52

多谢了！

rayshevchenko · 发表于 2009-5-11 16:16:51

相当有用啊，这个绝对得支持~

110xxd · 发表于 2009-5-23 22:44:25

谢谢楼主的无私贡献

yangwenxue · 发表于 2009-5-24 08:46:12

内部培训的时候老师讲到过，对于某些流程的PCB，因为都是金属，故IMC层会自己长大，影响上锡，故实验要加速模拟1年后此板的状况而做的加速老化测试，是个不错的文章

lym351 · 发表于 2009-5-30 13:37:04

我们是搞半导体集成电路和厚膜混合集成电路的，请问可以使用HALT和HASS吗？效果如何？

lqs1688 · 发表于 2009-6-5 08:55:29

这个文档可以呀!多谢分享

julei0594 · 发表于 2009-6-9 14:47:38

谢谢，一直研究可靠性，不过对这种方式一直有些怀疑

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谢谢