评估非挥发性memory器件在多次读写算后的持久性能
TestMethod:将数据写入memory的存储单元,在擦除数据,重复这个过程多次
测试条件:室温,或者更高,每个数据的读写次数达到100k~1000k
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准
MIT-STD-883EMethod1033
数据保持力测试(DataRetentionTest)
目的:在重复读写之后加速非挥发性memory器件存储节点的电荷损失
测试条件:在高温条件下将数据写入memory存储单元后,多次读取验证单元中的数据
失效机制:150℃具体的测试条件和估算结果可参考以下标准:
MIT-STD-883EMethod1008.2
MIT-STD-883EMethod1033 |