找回密码
 -注 册-
搜索
热搜: MTBF GJB MIL FMEA
楼主: xlsabycb

IC可靠性,系统可靠性分析

 火... [复制链接]
发表于 2016-11-12 16:07:10 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
回复

使用道具 举报

发表于 2016-12-5 00:39:48 | 显示全部楼层
这个都比较老了
回复

使用道具 举报

发表于 2017-2-20 08:43:48 | 显示全部楼层
评估非挥发性memory器件在多次读写算后的持久性能
TestMethod:将数据写入memory的存储单元,在擦除数据,重复这个过程多次
测试条件:室温,或者更高,每个数据的读写次数达到100k~1000k
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准
MIT-STD-883EMethod1033
数据保持力测试(DataRetentionTest)
目的:在重复读写之后加速非挥发性memory器件存储节点的电荷损失
测试条件:在高温条件下将数据写入memory存储单元后,多次读取验证单元中的数据
失效机制:150℃具体的测试条件和估算结果可参考以下标准:
MIT-STD-883EMethod1008.2
MIT-STD-883EMethod1033
回复

使用道具 举报

发表于 2017-3-10 16:48:14 | 显示全部楼层
很好的资料!谢谢!
回复

使用道具 举报

发表于 2017-3-26 13:19:20 | 显示全部楼层
看看看安康
回复

使用道具 举报

发表于 2017-9-27 08:28:10 | 显示全部楼层
现在做Reliability,但还要给客户做各国论证,看那么多标准!哎
回复

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | -注 册-

本版积分规则

QQ|Archiver|手机版|小黑屋|可靠性网 ( 粤ICP备14066057号 )

GMT+8, 2025-4-4 13:17

Powered by Discuz! X3.5

© 2001-2023 Discuz! Team.

快速回复 返回顶部 返回列表