一个奇怪的现象

annie@jing · 发表于 2008-7-21 15:32:05

在产品功能失效后,剖开产品发现一个三极管的元件外壳破损.这样的结果拿出去工程师都无法接受,问为什么在做前面的功能测试时没有失效呢?
对这样的现象我也无法解释,难道元器件外壳损伤,没有损伤到内部的性能也能暂时性过关吗?
各位有经验的同仁帮我解释一下啊?

动力的源泉 · 发表于 2008-7-21 15:57:30

请问是做了些什么试验?是不是高温高湿?

alta1234 · 发表于 2008-7-21 16:11:06

拿同一批樣品去做C-SAM試驗,就知道問題點出在那裡了~~

annie@jing · 发表于 2008-7-21 17:41:37

没有啊,只是进行了功能测试,加入了高压.
只是单独的一个产品,也无法用同一批产品去做啊?

stevenfeng0902 · 发表于 2008-7-22 11:33:03

我之前有经历过类似的问题，也是一个三极管，外观损伤，FCT测试OK，当做到HASS第一个低温-20摄氏度时管子就实效啦，导致CPU小系统重启后当机。以后再验证常温时第一遍OK，然后烧机一会再下电上电就问题复现啦，不知道是不是和你的一样！

动力的源泉 · 发表于 2008-7-22 12:12:33

做了安规试验吧.说明你们的原材料生产工艺存在问题,以前我也发现过.

alvinway · 发表于 2008-7-22 12:53:15

原帖由annie@jing于2008-7-2115:32发表
在产品功能失效后,剖开产品发现一个三极管的元件外壳破损.这样的结果拿出去工程师都无法接受,问为什么在做前面的功能测试时没有失效呢?
对这样的现象我也无法解释,难道元器件外壳损伤,没有损伤到内部的性能也能暂时...

确认了是单体问题就好办啊！！！针对这个问题做些改善，比如在功能测试前做些外观检查，排除一些外界因素的干扰哦！！！
请问下前面功能没有失效，那是经过什么测试后会出现的失效呢？如果是振动冲击HALT测试，那三极管的元件外壳破损的话，需要做进一步的分析哦！！！

annie@jing · 发表于 2008-7-22 14:16:38

是经过了FCT和PCT在进行FCT时有了安规试验,都没有失效啊,然后进行四小时的带负载试验(只是带动马达转动),
奇怪的是在负载试验失效后在进行FCT测试还可以通过.
但在进行马达带负载直接启动时只能启动,无法持续工作了.

aries · 发表于 2008-7-23 15:52:48

可能坏地只是外壳呗
里面并没有损伤到呗
很多芯片，从客户那里退回来进行测试的时候都根本没有功率输出
然后我们拿去bake一下
再测试就pass了
这种现象在芯片公司经常遇到

alvinway · 发表于 2008-7-24 23:50:22

原帖由annie@jing于2008-7-2214:16发表
是经过了FCT和PCT在进行FCT时有了安规试验,都没有失效啊,然后进行四小时的带负载试验(只是带动马达转动),
奇怪的是在负载试验失效后在进行FCT测试还可以通过.
但在进行马达带负载直接启动时只能启动,无法持续工作...

可能是上锡性没有达到要求，可以试着把三极管与PCB接触的地方加锡！！！只要能排除不是设计引起的，其他一切都好办了！！

与我工作中遇到一个情况类似，就是DIMM槽上锡性不好，512M的满载工作都OK，换成4G/8G的即使可以开机，运行一段时间就会重起的！！
拿去产线重新加锡后，一切OK。

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