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求助:产品质量问题!

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发表于 2008-9-30 23:44:22 | 显示全部楼层 |阅读模式
我司是生产家电控制板的,现在有一款洗碗机控制板装到客户的整机上,客户用11台整机运行了1个半月左右发现有6台LED灯坏了,试验环境为常温,但样品运行起来后机壳内的温度大约在60度左右(也就是我们控制板工作的温度),依我们推算也就相当于到最终拥护手上使用了1~2年的时间左右!我们已经找了供应商分析原因,已经知道是工艺问题或者LED质量问题了,由于质量问题再加上以前我们用2次回流焊去加工LED灯板(2次回流对LED的晶线伤害很大,再通过冷却以后因此问题将慢慢暴露出来了),现在供应商也整改了他们的质量,我们也将以前的2次回流焊改为一次回流焊,只是想通过试验告诉客户我们这次的动作是有效的或者可靠的,但具体可靠到什么程度我们没有底,想通过一套试验方法证明!目前我们正在用50台样品模拟用户的条件做60高温试验,但可靠度有多高和能大约保证在多少年的寿命我不知道,由于经验太浅,因此只能求教你们这些前辈了,现在公司要我拿个说法,我们这次的整改有多高的可靠度和估计运行的寿命,需要什么试验去验证\评估或加速,如何计算有没有具体的标准或标准号呀?否则我们客户会随时问标准依据的!没有具体的依据我们是很尴尬的!请求个位兄台指点一二及标准或试验方案,谢谢!
发表于 2008-10-1 01:13:03 | 显示全部楼层
控制板应该肯定适用于arrhenius模型
A=exp{(Ea/k)*[(1/Tu}-(1/Ts)]}
k=8.6*10E-5eV/K,1/Tu=1/(273+25)=1/298,1/Ts=1/(273+60)=1/333
Ea根据原材料的不同,有不同的取值,一般情况下:
氧化膜破坏0.3Ev
离子性(SiO2中Na离子漂移)1.0—1.4Ev
离子性(Si-SiO2界面的慢陷阱)1.0eV
由于电迁移而断线0.6eV
铝腐蚀0.6—0.9eV
金属间化合物生长0.5—0.7eV
楼主的公司产品,Ea应该取0.6ev
算出60度下跟常温(25度)相比的加速因子为11.7。
楼主的试验可以采用定时截尾的方式,双侧置信区间为[2T/X2(α/2,2r+2),2T/X2((1-α/2),2r),r为失效数,α=1-C,C是信心度。

个人观点,欢迎指正!
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发表于 2008-10-2 20:05:03 | 显示全部楼层
首先要确认你以前没有出问题时产品的寿命,然后你做测试只要验证能否达到没有出问题的产品寿命,达到且超过那么将是可行的!
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 楼主| 发表于 2008-10-2 22:42:53 | 显示全部楼层

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2楼的前辈,你所说的这些计算出于哪个标准依据呀?能否告诉我呢?比方说:Ea根据原材料的不同,有不同的取值和定时截尾的方式\双侧置信区间出自哪个标准依据呀!比方说试验样品的数量有没有相关规定,请赐教,谢谢!
另外,我们以前也用不同供应商做了对比试验,比如说高低温冲击,老化,温度循环等等,也确实发现这家供应商的LED有质量问题,经过供应商分析发现LED的晶线经过2次波峰焊接后已经有很大强度的影响,而且这些有质量问题的LED灯在高温下可能瞬间出问题,但到常温下有的还可以恢复点亮,因此在做实验室不太留意的还不一定能发现问题!除了上述试验我们是否已经做完善了?头批产品有问题已经是现实,但我们这次主要的目的是想验证一下通过供应商的质量整改以及我们工艺的调整,是否有效或者可靠,通过相关试验告诉我们的客户!不过我们倾向于产品的寿命问题,想引用不同加速验证,但小的确实不才,请各位前辈能抛砖引玉,谢谢!
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 楼主| 发表于 2008-10-6 09:07:48 | 显示全部楼层

回复 4# 的帖子

请各位前辈能抛砖引玉,谢谢!
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 楼主| 发表于 2008-10-14 14:22:32 | 显示全部楼层
我再顶!
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发表于 2008-10-14 15:03:18 | 显示全部楼层
因为现在你是想确认
1:供应商的整改是否到位
2:新工艺是否有效

其实所有的测试都必须针对FA的结果来进行.楼主不妨提供一下FA的结果
至于新工艺是否有效,你可以比较新旧工艺的差别,工艺的更改是基于什么考虑,从原因上去找测试项目

这样做测试也比较有说服力

还有你说LED灯在高温下可能瞬间出问题,那不妨重复这个环境看新的LED灯是否还会有同样的问题
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发表于 2008-10-14 15:40:03 | 显示全部楼层
定时截尾OR定数截尾and置信区间的问题你可以参考(搜索下论坛)
GB-T5080.7-1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案

对于Ea的取值,AsfarasIknow在AssemblyLevel没有标准依据.只有component级别的根据不同失效机理得出的Ea(比如半导体器件,JESD有标准给出不同失效模式对应的Ea值)

附件给你share一份IEEE论文,讲如何求取PCBA的Ea值的.仅供参考.

建议你先拟定一个加速寿命试验的方案给客户,若客户同意再去执行.
原帖由reliab于2008-10-222:42发表
2楼的前辈,你所说的这些计算出于哪个标准依据呀?能否告诉我呢?比方说:Ea根据原材料的不同,有不同的取值和定时截尾的方式\双侧置信区间出自哪个标准依据呀!比方说试验样品的数量有没有相关规定,请赐教,谢谢!
另外,我...

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发表于 2008-10-14 15:58:44 | 显示全部楼层
赞楼上的
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 楼主| 发表于 2008-10-14 17:12:59 | 显示全部楼层
多谢aries和fuckit热心帮助!
在此的前期我们做了温度冲击试验,条件:常温25℃-高温70±2℃(放置10min),-常温25℃(放置3min),低温-30±5℃放置(10min),-常温25放置(3min),循环50次
这是其中一个供应商的试验结果结果:
经过一次回流过波峰焊600PCS        试验过程中、试验后:1pcs在高温区不亮,常温及低温区恢复点亮;2pcs一直不能亮;其他样品一切正常。
经过二次回流过波峰焊600PCS        试验过程中、试验后:5pcs在高温区不亮,常温及低温区恢复点亮;1pcs一直不能亮;其他样品一切正常。
当然我们还做了高温高湿试验和高低温实验了!
因此就结果,我们用另外一个供应商的样品进行做了同样的试验,结果是好的!因此我们又联想用到1楼和4楼的问题了!
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