有关QFN ESD/EOS的问题

王贻甦

最近有个产品上的一个QFN芯片通过一些分析手段，发现在QFN的die上有个位置有hot spot的不良（就像包裹一团什么东西在上面似的）导致附近的信号脚短路现象发生。我们判断应该是由于ESD或者EOS导致的，因为那一团东西（我们赞叫做hot spot)很像之前发生的ESD/EOS现象。现在的问题是如何判断ESD还是EOS? 另外ESD/EOS会导致短路吗？通常不是击穿后应该是开路吗，怎么会短路呢？

王贻甦

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