找回密码
 -注 册-
搜索
热搜: MTBF GJB MIL FMEA
楼主: fanweipin

大家在做溫度降額測試時,測試環境是如何定義的?

 火... [复制链接]
发表于 2010-10-9 10:59:20 | 显示全部楼层
我们以是在高温40度下测的,后来做了与常温下的对比,结果没什么差异,现也就在常温下进行了
回复

使用道具 举报

发表于 2010-10-18 10:34:44 | 显示全部楼层
高温的芯片温升基本不会是常温25℃下温升的值,这个试验过;
我们比较懒,一般也是这样直接加这个值,但是和楼上不一样之处是,产品对外规格是多少,我们会在这个基础上再加5~10℃,然后换算芯片是否满足这个要求。
回复

使用道具 举报

发表于 2011-1-10 21:47:31 | 显示全部楼层
既然是降额实验,半导体肯定在40度下面测啊
根据测试出来的本体温度,你可以用Tj=Tc+W*P计算出结温,根据你们公司的降额标准进行降额啊
推荐用本体温度直接直接判断,一般以100度判断
回复

使用道具 举报

发表于 2011-1-10 21:49:53 | 显示全部楼层
对于一定要在常温下测试,用25度补偿15度到40度可以的
因为在25到40度之间,正好是线性关系
你要是觉得有怀疑,完全可以用mintab大量统计分析,这个project是我的西格玛黑带的课题,结论你可以直接用呵呵
回复

使用道具 举报

发表于 2011-3-31 22:31:47 | 显示全部楼层
楼上的朋友说得对,不过高温下测试比较麻烦,有人这样实际操作吗。
admin发表于2008-2-1917:03


我们在高温下进行关键器件的温度的降额。
回复

使用道具 举报

发表于 2012-9-8 10:25:59 | 显示全部楼层
我认为在试验箱测试还是比较好。常温下测试的温升与高温下测试的温升不一致的,环境条件不一样,但GB/T2423标准里有个对应的换算曲线(环境温度校正计算图)可以参考。
回复

使用道具 举报

发表于 2012-9-8 16:03:30 | 显示全部楼层
35度的也有
回复

使用道具 举报

发表于 2013-1-17 09:39:20 | 显示全部楼层
应该以工作温度的上限来进行测试吧。这应该更电压应力的降额一个道理。比如客户要有10A载,你带5A去测试,然后给一个降额值出来。这肯定不合理吧!
回复

使用道具 举报

发表于 2013-3-21 09:21:58 | 显示全部楼层
学习了
回复

使用道具 举报

发表于 2016-3-27 01:30:39 | 显示全部楼层
这个环境温度怎么去定义?多大的空间?温度点布在哪里?
回复

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | -注 册-

本版积分规则

QQ|Archiver|手机版|小黑屋|可靠性网 ( 粤ICP备14066057号 )

GMT+8, 2025-4-5 04:05

Powered by Discuz! X3.5

© 2001-2023 Discuz! Team.

快速回复 返回顶部 返回列表